中古 PHILIPS / FEI Strata 205 #293818080 を販売中

PHILIPS/FEI Strata 205は、電子顕微鏡および微細分析の分野における高精度サンプル調製用に設計された、洗練されたイオンフライス加工装置です。最先端のイオンミリング技術を採用し、ナノスケールでの材料除去精度を実現し、超微細表面仕上げを必要とする研究・解析用途において貴重なツールとなります。FEI Strata 205の中心にはイオン源があり、試料表面に集中したビームを生成します。これらのエネルギッシュなイオンでサンプルを爆撃することによって、材料はスパッタされ、制御された材料の除去が可能になります。このプロセスは、透過電子顕微鏡（TEM）解析のための望ましい厚さまでサンプルを薄くすること、表面の損傷を除去するために研磨すること、または詳細な微細構造解析のための断面を準備するために理想的です。PHILIPS Strata 205の主な特徴の1つは、イオンビーム制御の柔軟性です。ユーザーは、ビームエネルギー、電流、発生角度などのパラメータを調整して、フライス加工プロセスを特定のサンプル要件に合わせて調整できます。この柔軟性により、材料除去率を正確に制御し、サンプルを高精度で再現性のあるものにすることができます。Strata 205は、高度なイオンビーム制御機能に加えて、ユーザーエクスペリエンスと生産性を向上させるさまざまなサンプルハンドリング機能を備えています。このユニットには、フライス加工時のサンプル積載と正確な位置決めを容易にする汎用性の高いステージマシンが含まれています。自動化された制御とソフトウェアインターフェースにより、サンプル準備プロセスがさらに合理化され、ユーザーはツールを効率的にナビゲートし、複雑なミリングタスクを容易に実行できます。PHILIPS/FEI Strata 205には、サンプル準備を支援する高度なイメージングおよびモニタリングツールも装備されています。リアルタイムイメージングシステムは、ミリングプロセスに関する視覚的なフィードバックを提供し、必要に応じてサンプルの薄型化を監視し、パラメータを調整することができます。さらに、RHEED （Reflection High Energy Electron Diffraction）などの現場モニタリングツールは、ミリング中のサンプル表面構造と品質について貴重な洞察を提供します。FEI Strata 205は、ユーザーの安全性と資産の信頼性を念頭に置いて設計されています。このモデルは、事故を防ぎ、運転中のオペレータの保護を確保するために、内蔵の安全インターロックを備えています。さらに、この装置は堅牢性と長期的な性能を考慮して設計されており、要求の厳しい研究環境にも信頼できるツールとなっています。全体として、PHILIPS Strata 205イオンミリングシステムは、電子顕微鏡および微細分析における高精度サンプル調製のための強力で汎用性の高いツールです。Strata 205は、高度なイオンビーム制御機能、ユーザーフレンドリーな機能、信頼性の高い性能を備えており、ナノスケールでの超微細な表面仕上げと精密な材料除去を必要とするさまざまな分野で研究者やアナリストにとって貴重な資産です。