中古 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293808611 を販売中

FEI Nova Nanolab 600iは、デュアルビームフォーカス型イオンビームスキャン電子顕微鏡（FIB-SEM）イオンミリング装置で、高度なサンプル調製技術を実行することができます。このシステムは、低電圧でのイオンビームの電力と、走査型電子顕微鏡の柔軟性を組み合わせています。このユニットは、材料の物理的構造と化学組成を自然な状態で、また操作を受けたときに精密に制御および分析することができます。この装置の設計は、高解像度の焦点イオンビームコラムと1台のマシン内の走査型電子顕微鏡コラムの両方を組み合わせています。これにより、材料層を層別に正確に粉砕し、高解像度顕微鏡で結果を分析する独自の機能を提供します。このツールには、0-10kVのサンプルと加速度ポテンシャルを持つガリウムイオン源と、それぞれ低解像度および高解像度のイメージング用のスポットサイズ1および5nmが含まれています。二次電子検出には、エネルギーニュートラル原子（ENA）検出器と拡張範囲の逆散乱検出器が装備されています。イオンミリングアセットには、さまざまな高度な機能が搭載されています。例えば、自動化されたフライス加工シーケンスにより、フライス加工プロセスの微細な制御と精度が可能になり、層ごとのサンプル調製が容易になります。コンピュータ制御のステージとイオン/SEMプロービングにより、高い精度で試料に関する絶妙なディテールを収集することができます。感度の異なるレベルを制御することができ、標本調製を可能にします。Nova Nanolab 600iは、さらなる分析と研究のためのサンプルの調製を可能にする強力で汎用性の高いイオンミリングモデルです。FEI nanolab 600iは、物理的にも化学的にも高い精度でサンプルを分析することができるため、ナノ材料やその他の複雑な標本の研究に優れた選択肢を提供します。自動化された機能により、フライス加工プロセスのパラメータを正確に制御でき、繊細で貴重な材料を効率的かつ制御することができます。これにより、さまざまな実験を行うことができ、材料の特性や挙動に関する貴重な洞察を得ることができます。