中古 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293799586 を販売中

ID: 293799586
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Gas injection system for deposition: SiO2, Pt Manipulator resolution Transmission Electron Microscopy (TEM) sample kit PC.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 600iは、先進的な材料分析およびナノ加工用途向けに設計された最先端のイオンフライス加工装置です。ナノテクノロジー、マテリアルサイエンス、半導体製造分野の研究者やエンジニアにとって、優れた性能と汎用性を提供します。ナノスケールの精密加工、エッチング、蒸着プロセス用の高エネルギーイオンビームを生成する、洗練されたイオンビームカラムを備えています。これにより、高精度で制御する材料の操作と修正が可能となり、サブナノメートル分解能で複雑なナノ構造やパターンを作成することができます。FEI Nova NanoLab 600iの主な特徴の1つは、高解像度走査型電子顕微鏡(SEM)やフォーカスイオンビーム(FIB)イメージングなどの高度なイメージング機能です。これらのイメージングモダリティは、サンプルの地形、組成、構造に関する詳細な洞察を提供し、フライス加工プロセスのリアルタイム監視および分析を可能にします。また、エネルギー分散型X線分光法(EDS)を搭載し、サンプルの元素解析やマッピングを行うことで、装置の分析能力をさらに高めています。イオンフライス盤は、高いスループットで精密な材料除去・薄型化が可能で、透過型電子顕微鏡(TEM)の試料調製、デバイス試作、回路編集、故障解析など幅広い用途に最適です。このツールは、ガリウム(Ga)、ネオン(Ne)、キセノン(Xe)など、さまざまなイオンビーム種を提供し、特定の材料特性と要件に合わせてカスタマイズされたフライス加工プロセスを可能にします。PHILIPS Nova NanoLab 600iは、ユーザーの利便性とワークフロー効率を向上させる高度な自動化およびソフトウェア制御機能を備えています。このアセットには、簡単なパラメータ設定、レシピ開発、データ分析のための直感的なソフトウェアインターフェイスが含まれており、実験プロセスを合理化し、迅速かつ再現可能な結果を容易にします。さらに、ステージナビゲーションとサンプルハンドリング機能を自動化し、ユーザーの介入を最小限に抑えた複数のサンプルのハイスループット処理を可能にします。さらに、イオンミリングモデルは、多様な研究ニーズを満たすためにカスタマイズ可能な構成とアクセサリーで、汎用性と適応性のために設計されています。in-situリフトアウトシステム、ガス注入システム、低温サンプルホルダーなどのオプション機能により、装置の機能が拡張され、ナノ加工、デバイス特性評価、材料研究における幅広い用途が可能になります。結論として、Nova NanoLab 600iイオンフライス盤は、先進的な材料分析とナノ加工作業のための最先端のソリューションです。この装置は、高度なイオンビーム技術、高解像度イメージング機能、オートメーション機能、カスタマイズ可能な構成を備えており、研究者やエンジニアにナノ科学と技術の境界を押し上げるための強力なツールを提供します。
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