中古 LAM STRATA-GX #293609733 を販売中

LAM STRATA-GXは、科学者がナノスケール上の高品質の材料サンプルを得るのを助けるように設計されたイオンフライス盤です。電子顕微鏡検査、ナノプロビング、故障解析調査のための標本の断片化と準備など、さまざまな作業を実行するために使用できる汎用性の高いツールです。STRATA-GXイオンミリングシステムの中心には、フォーカスイオンビームがあります。高度なイオン銃によって生成されたこのビームは、レンズと開口部のセットを介して標的のサンプル材料に向けられ、材料の微細な断面を作成することができます。ビームがサンプル表面と衝突すると「、スパッタリング」と呼ばれるプロセスで原子が除去されます。単位を使用して、ユーザーは制御された厚さおよび均一な表面の横断面を得るために製粉率およびイオンビームの強度を精密に制御できます。また、独自に設計されたビュースクリーンマスクと自動ステージを備えているため、精度が向上し、結果として精度とサンプル品質が向上します。このツールは使いやすく、ユーザーの対話を最小限に抑える必要があります。すべての設定は、滑らかなコントロールノブとグラフィカルユーザーインターフェイスを介して調整できます。さらに、この資産には、機械的試料の調製と走査型電子顕微鏡イメージング用の統合ソフトウェアが含まれています。LAM STRATA-GXモデルには、フライス加工中のサンプルの安全な取り扱いを確保するための広範な安全対策が組み込まれています。この装置には真空チャンバー用の二次ポートが装備されており、ウェットサンプルの安全性が向上しています。さらに、このチャンバーは低真空ホールド無害なシステムを備えており、ビームの誤差を確実に抑えることができます。単位は速く、信頼できるように設計されています。フライス加工には時間ではなく数分かかるため、より高いサンプルスループットが得られます。イオンビームは非常に安定しており、チューニングの必要性を最小限に抑え、反復可能な結果を得ることができます。STRATA-GXイオンフライス盤は、ユーザーの安全性とダウンタイムを最小限に抑えながら、試料調製において最高の精度と再現性を提供するように設計されています。電子顕微鏡の試料調製、ナノプロビング、故障解析などの用途に最適です。