中古 FEI Helios NanoLab 450 #293647270 を販売中

FEI Helios NanoLab 450は、イオンミリングを行うために特別に設計されたデュアルビームフォーカス型イオンビームスキャン電子顕微鏡装置（FIB-SEM）です。FIB-SEMは、高解像度イメージングにより正確なナノスケールの変更を実行し、材料の詳細な3次元化学的、物理的、および地形分析を提供することができます。Helios NanoLab 450は、半導体デバイスの製造、故障と信頼性解析、科学的イメージングなどの分野で材料科学と工学の研究に役立つように設計されています。薄膜、カーボンナノチューブ、金属ナノワイヤ、量子ドットなどのナノ材料の特性評価に最適なツールです。また、ナノファブリケーション用の強力なツールであり、ユーザーはナノメートルのスケールで高精度の構造を生成することができます。このシステムは、デュアルビームFIB -SEM、センターガスイオンを使用してフライス加工を行うガス注入ユニット、およびフライトパスおよびイメージングコラムなど、いくつかの主要コンポーネントで構成されています。後者には、電子検出器、イオン検出器、および加熱/冷却ステージが含まれます。FIB-SEMは、イオンビームリソグラフィとイメージング技術を組み合わせて、対象物質の構造に関する詳細な情報を取得します。これにより、ナノメートルスケールでの精密な処理、イメージング、解析が可能になります。ガスインジェクション装置は、集光イオンビームに様々なガスを導入してサンプルを粉砕するために使用されます。ガスイオンは、目的の構造やパターンを作成するために、ターゲット材料から原子を除去するために使用することができます。ガス噴射圧力は、異なるフライス加工速度で調整することができます。このプロセスは、制御性と柔軟性に優れているため、ユーザーはさまざまな材料で高解像度のナノ構造を正確に生成することができます。FEI Helios NanoLab 450のイメージングコラムは、優れたイメージング解像度とコントラストレベルを提供します。また、加熱/冷却ステージを備えており、幅広い温度で材料特性を研究することができ、さらなる研究に役立つデータを提供します。全体として、Helios NanoLab 450は高度で汎用性の高いFIB-SEMツールで、正確なナノスケールの修正と高解像度イメージング機能を提供します。材料の研究やナノ材料構造の作製に携わる研究者にとって貴重なツールです。