中古 FEI Helios NanoLab 400S #293760462 を販売中

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イオンミリング

製造業者

FEI

モデル

Helios NanoLab 400S

装置の詳細
レビュー

ID: 293760462

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).

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