中古 KLA / TENCOR 300DFF1P #9256650 を販売中

KLA/TENCOR 300DFF1Pは、半導体産業において比類のない精度と品質保証を提供するように設計された先進的なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、3D自動光学検査（AOI）などの技術を利用して、ウェーハ表面の欠陥を非常に高い精度で検出および測定します。また、レーザーリソグラフィ、ディープリアクティブイオンエッチング（DRIE）、化学機械研磨（CMP）などのウェーハ欠陥補正プロセスを組み込んで、検出された欠陥に効率的に対処します。KLA 300 DFF1Pは、0。14ミクロンまでの解像度でウェーハ画像を生成できる高速イメージングプラットフォームを採用しています。高出力デジタル信号処理および信号校正機能により、ユニットの感度とダイナミックレンジが大幅に拡張され、非常に小さな欠陥を検出して寸法を測定することができます。さらに、リアルタイムのインライン欠陥検査プロセスにより、各セクターをスキャンし、欠損構造やシフト構造、ラインブリッジ、粒子汚染などの表面の不規則性を分離することにより、機械の計測機能がさらに強化されています。TENCOR 300 DFF 1 Pはまた、柔軟なデータ管理機能をユーザーに提供し、テストデータと結果をリモートで保存およびアクセスできます。このツールには統合されたレポートとドキュメンテーションオプションが含まれており、ウェハレポートを簡単に生成し、テスト結果の詳細な記録を作成できます。アセットのユーザーインターフェイスは、ユーザーに非常に直感的なナビゲーション構造を提供し、すべての機能や機能に簡単にアクセスし、ダウンタイムを最小限に抑え、生産性を向上させます。全体として、300 DFF1Pは非常に汎用性が高く、強力なウェーハテストと計測モデルです。優れたイメージング、計測、データ管理機能により、信頼性と正確なパフォーマンスを求めるあらゆる半導体製造設備に最適です。KLA 300 DFF 1 Pは、高度な機能と使いやすいインターフェイスを備えており、製品の品質を保証し、コストを削減し、効率を最大限に高めるように設計されています。