中古 ADVANTEST M 6761 #9217650 を販売中

ADVANTEST M 6761は、特に半導体デバイス試験用に設計されたモジュラー、高周波、電気試験ハンドラーです。ウェハレベルの信頼性と半導体製造環境におけるデバイス特性評価のためのパッケージとベアダイのテストを可能にする、自動化された最新の機能を提供します。ADVANTEST M6761ハンドラーには、半導体デバイスのテストに不可欠なさまざまな機能が搭載されています。コンパクトな設計で、試験環境の柔軟性と利便性を高めています。ハンドラーは、デバイスの性能を損なうことなく、輸送のためのサンプルの容易な輸送を可能にするように設計されています。自動化されたウェーハハンドリングシステムは、ウェーハの効率的なテストとローディングを可能にします。M 6761ハンドラは、多数の高周波試験および測定機能を備えて設計されています。統合された全温度範囲試験機能（最大200 ⁰C）が可能です。また、DCパラメトリックと高速スイッチング（最大200kHz）も統合されています。また、動的試験用の60Vパルスジェネレータを内蔵しています。さらに、ブレークダウン試験用のフラッシュ逆電流、デバイス特性評価用のパルス幅/位相測定、コンポーネント解析用のマルチシグナル測定も備えています。M6761ハンドラーは信じられないほど耐久および信頼できるように設計されています。統合されたモジュール設計により、メンテナンス要件を最小限に抑えた効率的なテストが可能です。このハンドラには、独立したデバイス試験電源（IVおよびVf）と、48Vおよび15Aのユーザー選択可能な高出力電源も装備されています。さらに、ADVANTEST M 6761ハンドラには、効果的な冷却のための高流量ファンも装備されています。全体的にADVANTEST M6761ハンドラは、効率的な半導体デバイス試験用に設計された信頼性の高い高速ハンドラです。自動化されたウエハハンドリングシステムにより、性能を犠牲にすることなく、サンプルを簡単に輸送できます。また、幅広い試験機能と高性能な機能により、半導体デバイス試験に最適です。