中古 ADVANTEST M 6541AD #9404434 を販売中

ADVANTEST M 6541ADは、高度な半導体メモリ試験運用用に設計された自動ハンドラです。これは、ダブルデータレート（DDR）モジュールなどのランダムアクセスメモリ（RAM）モジュールの欠陥を検出および診断するために使用される高精度の実験装置です。このハンドラは、150MHz以上の速度でチップから完全なモジュールまでテストできます。ADVANTEST M6541ADは、高度な制御アルゴリズムを使用して、データの読み取りとDDR4およびDDR5モジュールへの書き込みを、優れた精度と速度で実行します。高速機能により、モジュール性能のわずかなバリエーションでも検出できます。この精度により、メモリ寿命と寿命コストの面で最小限のトレードオフが保証されます。このハンドラにはイーサネットポートも装備されており、ホストコンピュータシステムとシームレスに通信することができます。ハンドラの状態をリモートで確認できるため、テストシステムもリモートで監視できます。このハンドラのリモートコントロールにより、中断することなく動作し続けることができます。M6541 ADはさらにLCDタッチパネルインターフェイスを備えており、ユーザーはさまざまな機能だけでなく、設定や制御パラメータにアクセスすることができます。このインターフェイスを使用することで、ユーザーは簡単にメモリテストパターンを確認し、テストするチップとパターンテストの比率を選択することができます。ADVANTEST M6541 ADは、小さなダイの焼入れからウェハレベルのテストまで、あらゆる自動操作をユーザーに提供します。このハンドラは、BGAモジュールやCSPモジュールなど、さまざまなチップサイズとタイプに対応しているため、プリプロダクションICとポストプロダクションICの両方のテストに最適です。M 6541 ADの高度な機能には、ファインピッチエラー解析、欠落チップの特定、早期故障の評価などがあります。また、欠陥デバイスの共通特性を検出する高度なセンシングシステムを搭載し、信頼性と正確なテストを可能にします。全体として、M6541ADは、ランダムアクセスメモリモジュールのテストのための高度な機能の範囲を提供する自動ハンドラです。この高速、高精度ハンドラは、モジュールの性能のわずかな変化を検出するように設計されており、すべてのテストアプリケーションに優れた性能と精度を提供します。さらに、内蔵のインターフェイスとリモートコントロールオプションは、ユーザーに拡張された制御および診断機能を提供します。