中古 ADVANTEST M 6300 #293636447 を販売中

ADVANTEST M 6300は、自動半導体テストシステム用の半導体デバイスの取り扱い、テスト、およびプロービング用に設計されたハンドラーです。2層のピック&プレース機構とマルチPIN接触構造を備えており、正確かつ効率的な処理を提供します。ハンドラは、手動で介入することなく、デバイスをフィクスチャまたはソケットに自動的に配置することができます。また、自動パドル操作を備えており、複数のピックアンドプレイス操作を同時に実行できます。これにより、テスト時間を短縮し、スループットを向上させることができます。ADVANTEST M6300には、さまざまな内蔵の振動保護対策も含まれています。真空サスペンション機構、ブレーキ制御、バブル除去技術などがあります。バブルエリミネーション技術は、真空装置内のバブルを防止し、誤検査や誤読を引き起こす可能性があります。また、振動保護機能により、動作中の振動や衝撃によるデバイスの損傷を防ぎます。M 6300は自動ソート操作も備えています。これにより、デバイスを均一な厚みで自動的にソートすることができます。これにより、選別プロセスを迅速化し、手作業を削減することができます。M6300には、デバイス識別、位置決め、およびチップマーキングのための自動検査ユニットであるEasyVisionシステムがあります。この機械は速く、自動装置識別を可能にし、テストの前にダイマークおよびオリエンテーションのための装置を点検します。ADVANTEST M 6300は、マルチユニットとマルチカードモジュールを備えており、両面デバイスのテストとマルチサイトミキシングのための複数のデバイスサイトを提供します。これにより、複数のデバイステストが可能になり、並列テストにハンドラを使用することができます。ADVANTEST M6300には、操作とプログラミングを簡単にするためのユーザーフレンドリーなソフトウェアプログラミングインターフェイスが含まれています。ADVANTEST RiscおよびSiComソフトウェアとも互換性があり、プロセス制御と通信を容易にします。M 6300ハンドラは信頼性が高く耐久性があり、簡単で直感的な操作で正確で効率的なハンドリングを提供します。保護対策が組み込まれているため、デバイスの損傷や誤検査のリスクが軽減されるため、毎回信頼性の高いテスト結果が得られます。また、複数のテストサイトと自動ソートツールを提供し、テスト時間の短縮とスループットの向上を実現します。M6300は、半導体試験を自動化するための効果的なソリューションです。