中古 ADVANTEST M 4642 #9171104 を販売中

ADVANTEST M 4642は、集積回路試験および検査用に設計されたハンドラです。それはADVANTEST Corporationによって製造され、半導体、パネルの表示、自動車、航空宇宙および医療産業の適用にとって理想的です。効率的で迅速な変更のための3段階の設計があり、さまざまな複雑なデバイスで高品質の試験結果を保証します。M 4642は、柔軟なデュアルステージハンドラを使用して、最大300mmウェーハ、3000 x 4mm2チップ、または70 x 400mm2ボードを輸送および処理します。それはいろいろな装置タイプおよびテスト条件の条件を満たすためにカスタマイズすることができます。それに強力な分類の機能を提供する高度の視野ソフトウェアが付いている高速テストオートメーションがあります。高度なビジョンシステムは、チップクラック、チップ分離、バンプ、ショーツなど、幅広い条件で欠陥を検出できます。これにより、顧客主導のソート基準を適用することができます。ADVANTEST M 4642は、高度な計測のために非接触レーザー干渉計を使用してデバイスを分類および検査するためにも使用できます。レーザー干渉計のサブミクロン測定精度は、故障解析、薄膜検査、光学エッチング検査などの用途において、薄膜の高さを正確に測定することができます。M 4642はJavaプログラマブルテストマクロも備えています。これにより、ループ、カスタムパネルターゲットのソート、計測検査などの複雑なテストシーケンスを構成できます。Javaプログラマブルテストマクロを使用して、複雑なソート基準を開発し、複数のデバイスを1つの操作で処理できます。さらに、ADVANTEST M 4642には、迅速なテスト機能と高度な故障診断機能が含まれています。迅速なテスト機能を使用して、すべてのテスト済みデバイスをすばやく識別し、テストとソート時間を短縮し、誤った拒否を減らすことができます。高度な故障診断は、故障パターンの原因を正確に迅速かつ正確に特定し、決定します。M 4642は信頼性および長期サービスのために設計されています。サーマルサイクリング、振動、衝撃、エージング、EMI/EMCテストなど、厳しい一連のテストを受けており、産業界のお客様の高い要求を満たしています。ADVANTEST M 4642はさまざまな適用を扱い、それを生産のテストおよび点検のための完全な解決にすることができます。