中古 YOKOGAWA TS 6730 #293659513 を販売中

YOKOGAWA TS 6730 Final Test Equipmentは、デジタル、アナログ、およびミックスドシグナル半導体デバイスの高速生産試験用に設計されたハイエンド多機能マルチサイトテストシステムです。これは高度に構成可能であり、ユーザーは正確なニーズに合わせてさまざまなテストモジュールから選択することができます。このユニットは、ソフトウェア、ハードウェア、ウェーハ/ダイテーブル、およびジグの4つの主要なコンポーネント領域で構成されています。ソフトウェア：機械は横川の署名ソフトウェアアプリケーション、EXAO（工学自動操作）によって動力を与えられます。このコンピュータソフトウェアは、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用して、テストツールのリモートおよびローカル制御を提供します。ユーザーは、デバイスのテストベッド、制御デバイスを接続し、1つの中央インターフェイスからテスト結果を監視できます。標準のテストアルゴリズムと同様に、高度なジオメトリ解析とストレステスト機能も利用できます。ハードウェア：テストアセットハードウェアは、幅広い本番アプリケーションに柔軟性と拡張性を提供します。このモデルには、シリアルデータリンク（SDL）機能、64高周波（HF）チャネル、64アナログチャンネル、および3つの電源チャネルを備えた最大64テスタデジタルチャンネル（TDCh）が装備されています。テストモジュールとリソースを含む最大4台のTDChおよびHFユニットを相互に接続することで、配線コストを削減し、機器の性能を向上させることができます。さらに、さまざまなデバイスモデルを迅速かつ正確にシミュレートすることができ、同じテストサイトでデバッグおよびバーンイン操作を可能にします。ウェーハ/ダイテーブル：ウェーハ/ダイテーブルは、大量の半導体ウェーハ/ダイをテストユニットに集積し、正確に配置するための取り外し可能なキャリアを提供します。このマシンは、ロット番号、ダイサイズ、およびダイオリエンテーションを自動的に識別することができ、欠落しているウェーハやダイを検出することができます。治具：試験用具の治具および据え付け品は装置を接続し、移すことの精密そして正確のために設計されています。これらの治具は、さまざまなデバイス接触パターンに合わせて構成でき、柔軟なテスト構成を実現します。治具はまた、テスト中にデバイスを安全に保持できるクイック接続/切断メカニズムを備えています。TS 6730 Final Test Assetは、デジタル、アナログ、およびミックスドシグナル半導体デバイスに最適な生産テストモデルです。高速試験、信頼性の高い正確な試験装置、柔軟な試験構成、簡単な試験管理を備えています。このシステムは、半導体デバイスの生産作業のために高速で信頼性の高い生産試験ユニットを必要とするお客様のために設計されています。