中古 YOKOGAWA AL 6095 #9181116 を販売中

横川AL 6095は半導体装置のために設計されている高度の最終試験装置です。最大20種類の半導体デバイスのテストを含む、大量の半導体ウェーハの自動テストを実行することができます。このシステムは、完全に自動化されたユーザーフレンドリーなテスト環境を提供し、テスト時間を大幅に短縮し、生産ラインの高精度を実現します。AL 6095は、完全自動化されたテストユニットとして、既存および将来の生産ラインに統合されるように設計されています。デバイステストには、デバイスマウント用の治具、欠陥を検出および測定するためのダイスキャナ、デバイステストを制御するためのソフトウェアなど、さまざまなモジュールが用意されています。また、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスも備えており、トレーニング要件を最小限に抑えて効率的なセットアップと操作を可能にします。YOKOGAWA AL 6095は、ウェーハ上で各デバイスをテストするための独自の高精度ビジョンツールを使用しています。ビジョンアセットは、はんだバンプ、開口サイズ、微細形状など、各デバイスの詳細を検出して測定します。これにより、モデルは実際の欠陥と偽の欠陥を区別し、結果の正確性と信頼性を確保することができます。AL 6095はまた、分析機能の広い範囲を提供します。内蔵のアルゴリズムにより、デバイスのパフォーマンスと歩留まりの診断が可能になり、デバイスの欠陥の根本原因分析が可能になります。さらに、この機器は包括的なデータ管理を提供し、ユーザーはテスト結果を保存、分析、エクスポートすることができます。横川AL 6095は、クリーンルームと非クリーンルームの両方の環境で動作するように設計されており、小規模から大規模な生産ラインに最適です。堅牢なビジョンシステム、高速試験実行、ユーザーフレンドリーなインターフェースなどの高度な機能により、半導体デバイス試験に不可欠なツールとなっています。