中古 YOKOGAWA AL 6050S #105372 を販売中
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ID: 105372
Test systems
Maximum operating frequency: 100MHz / 200MHz (DDR)
Maximum number of parallel DUTs: 512DUTs/system
Device to be measured: DDR-SDRAM, SSRAM, SRAM, PSRAM, FLASH
T data memory (TDM): 64KW x 36bit
Cooling Unit: Up Flow
Algorithmic pattern generator:
Operating frequency : 100MHz
Control memory : 1KW
X-address : 18 bits
Y-address : 18 bits
Data : 36 bits
Address scrambling : Available (256KW x 18bit x 2)
Data scrambling : Available (1KW x 36bit)
Timing generator:
Rate setting range : 10ns to 10ms
Resolution : 19.53125ps
Edge : per PIN
Setting range : 0ns to 1ms and
0ns to RATE_4-10ns
Resolution : 9.765625ps
Strobe : per PIN
Setting range : 0ns to 1ms and
0ns to RATE_4-10ns
Resolution : 9.765625ps
Split level (on the fly): 16 sets
Overall timing accuracy : Normal pin ±400ps
Common pin ±500ps
DRV skew : Normal pin ±200ps
Common pin ±300ps
CMP skew : ±200ps
DC level pin card:
Total number of pins/STATION :320
NLEVEL power supply : _2V to +6V
HLEVEL power supply : 0 V to +15 V
DC measurement unit:
(64) units / station
Voltage range : _8V to +16V
Resolution : 1.25mV
Current range : ±0.1A
Resolution : 0.25nA to 25uA
Device power supply unit: 256 units/STATION
Common power supply unit: 1ch/STATION
Fail memory:
Max. 144Gbit + 36Gbit /50MHz
Maximum bit width : 36 bits
Redundancy unit:
Redundancy CPU : Power PC440GX, 667Mhz
Main memory :256Mbyte
Shared memory : 256*4 Mbytes
Data log memory:
64 words
128 words (DDR mode)
Calibration:
Timing : AUTO
DC level : AUTO
CPU and peripherals:
TMP Processor (*1)
Blade 150 manufactured by Sun microsystems
19"" display
Local memory : 256MB
PCI-VME Local bus adapter
650MHz Ultra spark Iii (512KB Cache)
512MB Memory
80GB HDD
1.44MB 3.5" FDD.
YOKOGAWA AL 6050Sは、プリント基板製造用に特別に設計されたデジタルで費用対効果の高い最終試験装置です。デジタル、アナログ、ミックスドシグナル回路のテストに使用できる高精度のマルチチャネルシステムです。AL 6050Sには、他のテストシステムとは異なるユニークな機能がいくつかあります。8つのアクティブデジタルチャネルを内蔵し、最大2つのオプションの高電圧デジタルI/Oモジュールで構成できます。また、最大8台のデジタルコンパレータ、信号モニタを備え、さまざまな電源電圧と駆動信号を生成できます。また、信号源、パワーモニター、メモリアクセスユニットも提供しています。YOKOGAWA AL 6050Sは、タッチパネルコントロール付きの標準7 インチカラーLCDスクリーンに代表される高度なオペレータインターフェースを備えています。このマシンは、ユーザーフレンドリーでグラフィカルインターフェイスで最大限の制御と精度を実現するように設計されています。これにより、テストの設定、テストパターンの設定、結果の分析が容易になります。AL 6050Sは、プリント基板の最終試験を効率的かつ正確に行うために、さまざまな機器を使用しています。設計にはPCへの直接接続が含まれており、エンジニアはプリント基板の設計を迅速かつ効率的にテストおよび検証することができます。高速パルスソースとパルスジェネレータを内蔵しており、高速で信頼性の高いパフォーマンスを提供します。横川AL 6050Sは、高度なセルフキャリブレーションツールと、常に正確な試験結果を保証する温度制御アセットを内蔵しています。セルフキャリブレーションモデルは、低ノイズ動作と高い安定性の値を提供するように設計されており、極端な温度下でもより正確なテストが可能です。AL 6050Sは、信頼性と正確な結果を品質保証チームに提供する強力で効率的な試験装置です。このシステムは、複雑な設計における微妙な欠陥を検出することができ、機能テストとパラメトリックテストの両方に使用することができます。中小規模の生産ラインに最適なソリューションで、高い精度、コスト効率、スピードを提供します。
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