中古 WANFUDA WFD1705 / 1805 #293659211 を販売中

WANFUDA WFD1705/1805 Final Test Equipmentは、さまざまな用途における大規模なNAND製品の品質と信頼性を確保するために設計された高度な不揮発性メモリ試験ツールです。WFD1705とWFD1805は、3Dセルマッピング、フラッシュプログラミング、リードバック、書き込み/読み取り操作、背景比較、フラッシュ検証など、最新の業界標準のテスト技術を備えた第3世代のテストシステムです。WFD1705/1805システムは、テスト前とテスト後のデータ分析機能、フラッシュレイアウトと生産テストの両方を提供します。WFD1705システムは完全な3D NANDセルレベルのマッピング機能を備えており、マッピング精度が向上し、最新のトリプル層セルマッピング技術を備えています。この機能により、開発者は製造上の潜在的な欠陥やメモリチップ上の弱点を迅速かつ正確に検出および分離することができ、製品出荷前の問題の修正を可能にします。WFD1705ユニットにはFlexible Flash Process Operation （3FO）機能が搭載されており、1つのコマンドで複数の同時読み取りおよび書き込み操作を同時に実行できます。これにより、テスト時間が短縮され、複数の手動コマンドも排除され、効率が向上します。3FO関数を使用すると、両方の読み取り/書き込みコマンドが同時に開始され、個別に実行することができます。WFD1705マシンは、パワーオンプログラミングと書き込み/読み取り操作も備えています。これにより、事前にプログラムされたデータを複数のNANDチップに一度に生成し、すべての操作を手動で実行できます。この機能により、プログラミング時間が大幅に短縮され、生産出力が高速化されます。WFD1805ツールは、改善されアップグレードされたバージョンであり、ユーザーに資産パフォーマンスの向上を提供するように設計されています。顕著な機能強化には、フラッシュ検証速度の向上、機能サポートの強化、テストの効率化、ユーザー定義のパラメータと機能の追加などがあります。このモデルには、プレレベルおよびポストレベルのセルのテストと検証の両方が含まれているため、製造前に新しく作成されたNANDチップとそれ以前のNANDチップの両方のさまざまなレイアウトを比較できます。全体として、WANFUDA WFD1705/1805最終試験装置は、さまざまなデバイスで使用されるメモリチップのデータ整合性を確保するための高度で信頼性の高いツールです。高度な3D NANDセルレベルのマッピング技術と柔軟なパフォーマンスオプションにより、メーカーはメモリチップの潜在的なエラーを迅速かつ正確に検出し、それらを修正できます。さらに、このシステムは、パワーオンプログラミングと書き込み/読み取り操作により、より速い生産出力を可能にします。信頼できる性能と高度な機能を備えたWFD1705/1805 Final Test Unitは、製品の最高レベルの品質と信頼性を確保しようとするメーカーに最適なソリューションです。