中古 THERMONICS T 2500 #9248047 を販売中

THERMONICS T 2500 Final Test Systemは、最新の組込み半導体デバイス試験のニーズを満たすように設計されたフル機能の高性能テストおよび生産システムです。THERMONICS T2500は、幅広いマイクロコントローラ、ASIC、およびメモリチップをテストすることができ、生産および検証テストに最高レベルの精度と信頼性を提供します。T-2500はモジュラー設計を備えており、さまざまなチップタイプの要求に対応する柔軟性と拡張性を追加できます。このシステムは、コントローラユニット、ロジックテストユニット、OTPプログラミングユニット、および複数のインターフェイスコネクタで構成されています。コントローラユニットは、ARM9マイクロプロセッサ、シリアル周辺インターフェイス（SPI）モジュール、およびさまざまなデバイス接続プロトコルをサポートできるアプリケーション固有集積回路（ASIC）など、さまざまなモジュラーコンポーネントで構成されています。THERMONICS T-2500ロジックテストユニットは、デバイスの機能と検証をテストするために使用されます。これは、高速グラフィカルユーザーインターフェイス、画像ジェネレータ、およびいくつかのIPプロトコルタイプが可能なロジックテスターで構成されています。イメージジェネレータは、各デバイスタイプの特定のパラメータのテストパターンを生成するために使用されます。ロジックテスターは、さまざまなテストを実行することでデバイスの機能的な正確性を検証し、品質保証およびデータ分析のために結果を記録することができます。OTPプログラミングユニットは、再プログラム可能なワンタイムプログラマブル（OTP）ハードウェアデバイス構成を保存および編集できます。デバイスのテスト結果とレポートを保存およびアーカイブするための内部メモリが装備されています。さらに、このユニットは外部メモリスティックをサポートしており、複数のデバイス構成を同じユニットに保存できます。T 2500には、外部デバイス用の複数のインターフェイスコネクタも含まれています。これにはUSB、 USB Type-C、イーサネット、RS-232コネクタが含まれ、プログラミングとテスト機能に相当する機能を備えたデバイスへの接続を提供します。T2500は、デバイスのテストとプログラミングに最適です。内蔵の制御ユニットは幅広いデバイスとプログラムをサポートしていますが、モジュール構造により、異なるチップタイプの拡張と調整が可能です。さらに、複数のインターフェースコネクタとOTPプログラミング機能により、デバイス試験の効率と信頼性がさらに向上します。