中古 TESEC 3702-LV/L #293663223 を販売中

TESEC 3702-LV/Lは、Teradyneが高性能ICの高度な試験用に開発した自動試験装置です。信号整合性、ESD、パラメトリック測定など、さまざまなテストを実行できます。このシステムは、高精度なプローブチップ測定のための2つの高速、高分解能LVDSチャネルと、さまざまなICおよびユニット構成を制御するための複数のリレーおよびバイアスネットワークを備えています。それは容易な構成および柔軟性のために設計されているモジュラー機械です。これには、さまざまなセンシングおよび中継デバイスを使用する機能と、ツール内の複数のデバイスをテストするための柔軟なハードウェア同期が含まれます。また、容易な資産統合と管理を提供します。このテストモデルは、忠実度の高いデータ分析とレポート機能を提供します。その高度なテストベンチソフトウェアは、複雑なテストとテスト条件を作成するための使いやすいグラフィカル環境を提供します。テスト結果は自動的に生成され、リアルタイムで評価されます。標準的なスクリプト言語であるMIDASは、より複雑なテストに使用されます。この装置は、スキャンベースの試験、容量漏れ検出器、プログラム可能な境界スキャンテスターなどの高度な測定ツールを使用して、測定精度と速度を向上させます。また、LVDS信号と非LVDS信号の両方の複数の接続をサポートしているため、より正確な信号比較が可能です。さらに、熱性能や機械力など、さまざまな単位パラメータを制御することができます。また、電圧や電流メーター、オシロスコープ、ファンクションジェネレータなど、さまざまな機器にも対応しています。テストツールは、堅牢で信頼性の高い設計です。産業グレードのプロセッサで動作し、他のシステムと簡単に統合できます。すべてのコンポーネントは、産業環境での拡張使用に耐えるように構築されています。アセットはまた、テストオートメーションのためのアプリケーションプログラミングインターフェイスとユーティリティの広範なライブラリを提供しています。全体として、TESEC 3702-LV/Lは、高性能の電気および機器の試験用に設計された高度なモジュラーモデルです。複雑なテストをプログラミングおよび実行するための使いやすいグラフィカル環境を提供し、正確で信頼性の高いデータ分析とレポート作成のための複数のセンシングおよび測定ツールを備えています。また、堅牢なコンポーネントと接続オプションを使用して設計されているため、あらゆるテスト環境に最適なシステムです。