中古 TERADYNE Z18XX #9123223 を販売中

TERADYNE Z18XXは、精密なテストシーケンスを必要とする複雑な電子製品向けに設計されたハイエンドの最終試験装置です。TERADYNE Z 18XXは、高いI/Oピン数と高スループットを必要とする設計に適した包括的なテストカバレッジと並列テスト機能を提供します。スキャンされたIOのようなDFT要件をサポートするための幅広いリソースを備えています。Z18XXシステムには、Actel FPGAなどの最大48ユニットのプログラマブルロジックを備えたCX3コントローラが含まれており、より高いテストレートで並列テストを可能にし、テスト時間を短縮できます。CX3コントローラは、さまざまなレベルのロジック機能を備えた最大1536個のIOピンをサポートし、VOC測定、境界スキャン、JTAGなどの要件に必要な柔軟性を提供します。これは、電圧、電流、周波数、位相測定を含む計測器を備えた幅広いテスト機能を備えています。Z 18XXユニットはまた、高速な作動機能を備えており、正確なシングルテストおよびマルチテスト作動を可能にします。これにより、ユーザーはピンカウントが高い場合でもミリ秒単位でテストをトリガーできます。さらに、このマシンは、プリテストおよびDFT操作における温度およびその他の条件を検出するための環境監視を提供します。TERADYNE Z18XXツールにはいくつかの動作モードがあります。シリアルモードでは、業界標準の設計に完全に準拠し、バーストパターンやその他のバリエーションを使用してタイムドオペレーションとシーケンス操作を実行できます。並列モードでは、より高いスループットでテストを実行できるため、複数のコアを持つ複雑な設計に最適です。さらに、SieveXテクノロジーを使用すると、並列テストを利用してプログラミング道路を迅速に分離し、問題を診断することができます。TERADYNE Z 18XXアセットにはアルゴリズムベースのセットアッププロセスがあり、ユーザーはモデルをすばやく設定できます。これは、ウィザードと一般的な操作のためのプロンプトと直感的なWindowsスタイルのインターフェイスを提供しています。グラフィカルなテストケースエディタは、階層メニューとわかりやすいビルディングブロックを使用してテスト開発プロセスをガイドするため、実用的なスクリプト作成も可能です。Z18XX最終試験装置は、複雑な電子機器の自動生産試験に適しています。これは、高性能、コンパクトなアプリケーション、および機能豊富な計装を提供し、ユーザーはテストシステムを最大限に活用し、より高いテスト歩留まりを達成することができます。