中古 TERADYNE Z1888 #9031289 を販売中

TERADYNE Z1888 Final Test Equipmentは、最小限の設備投資で最大限のスループットを実現するように設計された、多目的で使いやすい自動テストシステムです。このユニットは、ディスクリート、ロジック、FPGA、メモリ、電源製品など、さまざまな半導体製品のテストに最適化されています。TERADYNE Z 1888は、高速テスター、サンプルロード、ピンクラスタリングとスイッチング、自動欠陥分類、IO監視と制御、包括的なデータ分析レポートを備えています。Z1888の中核はテスターアーキテクチャであり、業界をリードする機械のスループットと柔軟性を提供します。テスターはモジュール設計を採用しており、テストヘッドとリレーが統合されており、迅速なテストと構成が可能です。テスターは高速ソフトウェアで最適化されており、複数のリソースにわたって並列テストの実行と配布が可能で、スループットが向上します。直感的なキットマネージャとスケジューリングソフトウェアによってワークオーダーとセットアップが容易になり、効率的な製造と製品フローが可能になります。Z 1888は、IO、電圧、デジタル、熱試験に特化したソリューションで、さまざまなプローブ技術を提供しています。高度なプローブとテストヘッドは、優れた精度とテストカバレッジのために設計されています。TERADYNE Z1888は、テスト実行中にリアルタイムの障害検出を可能にし、迅速な是正アクションとダウンタイムを削減する歩留まりを改善します。TERADYNE Z 1888は、サンプルの自動読み込みツールを備えており、サンプルの効率的なテストとセットアップを提供します。完全に統合されたピンクラスタリングおよびスイッチングアセットにより、小さなパッケージのテストだけでなく、完全なマルチサイトテストおよび診断モデルも可能になります。装置はまた自動的に分類し、失敗するテストを分類し、セットアップおよびテスト実行時間を更に減らすことができます。最終テストシステムは、統合されたIO監視および制御機能を介してリモートユニットの監視と制御を可能にします。IOマシンは、テストツールの制御と監視において高精度と信頼性を提供します。Z1888のデータ分析およびレポート機能は、歩留まり分析からテスト結果の傾向、および製品エンジニアのパフォーマンスまで、包括的な分析を提供します。Z 1888は、信頼できる革新的な試験技術により、安全でクリーンな生産環境を提供します。高度な資産設計、自動化されたテストおよびサンプルローディング、およびリモート監視および制御により、優れた精度と信頼性を提供し、費用対効果の高い信頼性の高いテストソリューションを実現します。TERADYNE Z1888 Final Test Modelは、半導体メーカーに信頼性と信頼性の高い自動テストソリューションを提供し、設備投資を最小限に抑えて最大のスループットを達成します。