中古 TERADYNE Z 1890 #9031288 を販売中

TERADYNE Z 1890 Final Test Equipmentは、集積回路、基板、およびシステムの大量かつ高速の機能テスト、診断、およびバーンインを可能にする高度で汎用性の高い費用対効果の高いシステムです。通信、産業、自動車、医療など幅広い用途に適しています。テストユニットのコアアーキテクチャは、メインフレームと半導体テストハンドラの2つの主要コンポーネントで構成されています。Mainframeは、CompactFlashメモリカード、ダイレクトインタフェーステスター、およびデジタル信号処理（DSP）モジュールなどのリソースをホスティングするための汎用性の高いマルチステーションプラットフォームです。テストプロセスを加速および制御するためのフィールドプログラマブルゲートアレイ（FPGA）を備えています。Semiconductor Test Handlerは、558/2588 proBERファミリから構成可能なマルチチャネルユニットです。UARTやGPIBなどの多機能I/Oポート、EtherNet/IPネットワーキング、カセットのロード/アンロードを可能にします。大きいピン容量および速いサイクル時間はそれを強力な最終的なテストソリューションにします。このマシンには、低電圧およびRF試験用の高密度バックプレーン（HDB）、信号スイッチング用のACスイッチマトリックス、メモリ、デジタルロジック、アナログ測定用の幅広いproBERテストモジュールなどのテスト固有のコンポーネントも含まれています。HDBにより、複数のカードと高速アナログ信号を同時にツールに接続できます。ACスイッチマトリックスは、最大200MHzの周波数でアナログ信号の高速スイッチングを提供します。proBERモジュールは、正確な高速測定機能、統合されたプロービングシステム、複数のテストパターン機能、高度な故障解析を備えています。Assetは使いやすく、直感的なオペレータインターフェイス、高度な診断ツール、および設定可能なパス/フェイル条件を提供します。さらに、分析テストツールやテストスイートなどの高度なソフトウェアと統合できます。また、障害の詳細分析や高度なデバッグコマンドセットなど、モデルレベルのデバッグツールも提供しているため、機器レベルの問題の検出と解決が容易になります。さらに、堅牢な設計により、最も過酷なテスト環境でも信頼性の高い動作を保証します。TERADYNE Z1890 Final Test Systemは高性能で信頼性の高いテストユニットで、大容量で高速なテストに最適です。モジュラーアーキテクチャ、高度なテストリソース、直感的なユーザーインターフェイス、安定した動作により、幅広い集積回路およびマシンレベルのテストに最適です。