中古 TERADYNE Z 1880 #293818770 を販売中

TERADYNE Z 1880は、さまざまな高密度、高速アプリケーション向けの先進的な最終試験装置です。電子制御ユニット（ECU）、半導体ウェハチップセット、MEMS、イメージングセンサーのテストに最適なクラスの製造分類です。クラス最高の同時試験密度と、温度制御や降圧/ブースト電圧設定などの幅広い特殊モジュールのオプションを提供します。汎用性の高いアーキテクチャにより、特定の要件や大規模な本番稼働にも対応できます。TERADYNE Z1880は、さまざまな業界標準のプローバーと互換性があり、さまざまなテストパラメータに対応するモジュール設計を採用しています。メインフレームは、すぐに使用でき、拡張性が高く、メンテナンスが容易なテストヘッドとインターフェイスエレクトロニクスで構成されています。このシステムは、最大32台のデバイスを最大7.5MHzの速度で並列にテストでき、合計128台のデバイスをサポートします。さまざまなテストパラメータを構成して、最大スループットまたは最高のテスト精度のテストプロセスを最適化できます。Z 1880は、いくつかの包括的なプローブ装備オプションを提供し、Open Grid Architecture （OGA）のような豊富な機能を備えています。これにより、ユニットは複数のテストヘッド間でテスト構造を構成し、個々の信号を仮想テスターチャンネルに解析することができます。また、高速ソート機能も備えており、不良デバイスを迅速に検出および拒否するために使用できます。このマシンは、拡張温度および供給範囲のマルチレベルマトリックス試験にも対応しているため、製品内の非常に低い故障率を検出することができます。Z1880のその他の機能には、データロギング、デバイス特性評価、ウェハレベルテスト、デジタルイメージング、3Dビジュアルプローブ位置決めなどがあります。TERADYNEソフトウェアスイートによって制御され、LabVIEW、 Visual Basic、 C++などのさまざまなソフトウェア言語で使用できます。TERADYNE Z 1880は、さまざまな高速高密度アプリケーションのテストに最適です。その汎用性、拡張性、機能の豊富さは、コスト効率が高く信頼性の高い強力なテストソリューションを求めている製造業務に最適です。