中古 TERADYNE Z 1880 #136073 を販売中

TERADYNE Z 1880は、複雑なデバイスや半導体チップの高速かつ正確なテストを可能にするように設計された、高性能で自動化された最終試験装置です。このシステムは、最大8。8MHzの試験速度と最大0。001 μ Vの測定精度を提供することができます。さらに、Clock Slew Rate CorrectionとAutomatic Test Time Reductionという2つの追加のテスト速度を提供します。TERADYNE Z1880ユニットは、アナログメインフレーム、メインキャビネット、絶縁ジャンクションボックスで構成されています。アナログメインフレームは、最大3つのテスター機器を収容することができます（機器によって異なります）。メインキャビネットはメインフレームを収容するために使用され、絶縁されたジャンクションボックスは計装とテストボックスの間の電気的分離を提供します。Z 1880マシンには、さまざまなコンポーネントやデバイスをテストするために使用されるさまざまな機器が装備されています。これらの機器には、線形デバイスをテストするための線形プローブカード（LPC）、温度に敏感なコンポーネントをテストするための熱電対、デジタルシステムをテストするためのパルスジェネレータなどがあります。このツールは、オンボード診断、電圧および継続性の測定、およびロジックアナライザ機能へのアクセスも提供します。このアセットは、信頼性の問題になりやすいデバイスをテストするために使用されるユニークなストレステストモードも提供します。ストレステストモードは、環境試験環境を模倣するために、高温、電圧、および応力の条件を作成します。これらのテストのすべてのテスト結果は、モデルのメモリに保存され、後で分析するために使用することができます。この装置は、プローブカード、ワイヤーハーネス、インターフェースアダプターなどのカスタマイズ可能なアクセサリーで利用できます。Z1880は、タッチスクリーンユーザーインターフェイスと組み込みソフトウェアモジュールで設計されており、セットアップとメンテナンス時間を短縮します。システムはセルフモニタリングされているため、すべてのテストが自動的に実行され、エラーが自動的に検出されるため、オペレータの介入は不要です。さらに、ユニットのソフトウェアはアップグレード可能であり、必要に応じて新しい機能を追加できます。この機械は適用範囲が広く、顧客の特定のテストの必要性を満たすために容易にカスタマイズされるように設計されています。このツールは、オペレータを念頭に置いて設計されており、厳しい業界基準を満たすようにテストされています。さらに、資産には、不正アクセスや改ざんから保護するための高度なセキュリティ機能が装備されています。TERADYNE Z 1880モデルは、高速かつ高精度な機能を備え、幅広いアプリケーションに信頼性の高いテストプラットフォームを提供します。この装置は、半導体チップやその他の複雑な電子部品のテストに最適で、企業は製品を最短時間で迅速かつ確実にテストすることができます。