中古 TERADYNE UltraFlex #9361500 を販売中

TERADYNE UltraFlexは、費用対効果が高く、柔軟で柔軟性の高い最終試験システムです。それはハイエンドのR&Dおよび生産のテストソリューションの利点と結合される最高のテストカバレッジ、性能およびスループットを提供します。TERADYNE ULTRA FLEXソリューションは、さまざまなアプリケーションニーズをターゲットに、低ピンカウントから高ピンカウントのATEソリューションに展開できます。最新のテストシーケンシングロジックを備えた高度な組み込みソフトウェアを使用することにより、UltraFlexは柔軟性、高速性、およびより大きなテストヘッド機能を提供します。ULTRA FLEXの自動化されたテスト機能には、フルソルダラビリティテスト、高速メモリテスト、Functional and Flash Burn In、 ESDテスト、バーンイン、HVおよび高速ポートテストが含まれます。温度制御機能と同時診断機能を備え、テストとバーンインをサポートし、同時に高速で信頼性の高いパフォーマンスを提供します。このシステムは、製品ライン全体で拡張性と柔軟性を確保するために、4〜10チャネルおよび16チャネル構成で提供されています。強力なJ750アーキテクチャを活用し、クラス最高のTERADYNE UltraFlexテクノロジーを活用することで、クラス最高のパフォーマンスと速度、最大3GHzのメモリテスト速度、最大800Mbpsのデータレート、最大70MHzのパッケージ速度を提供します。また、効率的かつ低コストの並列テストとシミュレーションのためのマルチサイト設計機能も備えています。高度なスキャンテストにより、TERADYNE ULTRA FLEXはボードレベルのテストとアセンブリのための最大限のテストカバレッジソリューションを提供します。それは高性能、高速および最も高いテストカバレッジを提供します。高ピンカウントのBoundary-Scan （JTAG）ボードは迅速かつ確実にテストでき、高性能シーケンシングにより高速で柔軟なテストソリューションを実現します。UltraFlexは、テストデータと結果の両方を簡単にデータロギングでき、さまざまな顧客設定可能なパラメータを提供し、高度な診断と分析を提供します。また、SPI、 I2C、 USBなどの幅広いインターフェイスプロトコルもサポートしています。Visual Test Editor （VTE）によるテストパターンの編集とカスタマイズにより、テストプログラムの迅速かつ信頼性の高い展開が保証され、TestPilot GUIはドラッグアンドドロッププログラミング環境を提供します。費用対効果、柔軟性、パフォーマンスに加えて、ULTRA FLEXは極めて高い信頼性と堅牢性を求められています。複数の熱制御システムにより、長期的な安定性と精度を保証します。これにより、要求の厳しいアプリケーションの開発と生産を成功させることができます。