中古 TERADYNE UltraFlex #9232724 を販売中
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販売された
ID: 9232724
ヴィンテージ: 2010
Tester
(2) DC-30, 974-217-30
(2) Distribution boards, 956-455-00
2nd Gen DSP Computer
(2) HexVS, 974-294-20
(8) HSD-M, 974-331-44
(2) PTS 310 Synthesizers, 361-560-00
Support board (Master), 974-221-03
Support board (Slave), 974-221-11
GPIO
Turbo frame (Dual)
Turbo base
HDVS
MW Measure board
MW SYNTHLO
MW SYNTHREF
HSS-6400 (SB6G)
DSP 2009
XW8400 Workstation
Configuration:
P/N / Description
810-724-00 / SC-R semiconductor test system
979-389-00 / Option expansion cabinet
810-851-00 / Kit, UF exp cab PWR
IN-401-24 / Up to 24 testhead slots
(8) 979-331-22 / HSD1000 instrument assembly
(8) IN-144-40 / 400 MBPS speed
(8) IN-325-60 / 256m pattern depth
IN-124-88 / HSD1000 dssc license system wide
(2) 979-217-30 / Assy, DC30
(2) 979-294-00 / HEXVS instrument assembly
979-808-00 / Turbo AC single SRC / CAP channel assy
IN-171-41 / Full single channel turbo lic
979-811-00 / Kit, UF turbo AC PTS base kit
979-223-00 / Dual processor DSP kit
(10) 979-359-00 / Filler board assembly
814-602-01 / Kit, XW8400 20ft CBL
IN-000-90 / Microsoft office 2003 right-to-use license
979-427-00 / Kit 19" LCD monitor option
979-370 00 / Kit-computer cart 24''
814-618-01 / 2GB Ram extension for XW8400
IN-400-00 / IG-XL system license
IN-401-00 / IG-XL-TSTR SVC dacmcn-kla int
810-724-05 / sc-r semiconductor test system
979-389-00 / Option expansion cabinet
810-851-00 / Exp cabinet power kit
IN-401-24 / Up to 24 enabled TH slots
979-126-20 / Assy heat exchanger 24 slots
9979-377-00 / Kit card package STD + 1EXP
(8) 979-331-22 / HSD 1000 Mech assy
(8) IN-141-12 / HSD Board 1000 Mbps data rte license (6.3-7.49)
(8) IN-325-66 / HSD Board 256M Pattern depth license (6.3-7.49)
IN-124-88 / HSD 100 DSSC license system wide
(2) 979-217-30 / DC30 Ports
(48) IN-403-00 / HDVS Channel license
979-496-00 / High density vs assy
979-294-00 / Assy JAGUAR H15AVS Port
IN-320-64 / HSS Speed board (5860) S86400 (3.6-7.49)
979-336-02 / Assy tornado HLA
IN-175-25 / SB 6G 256M Pattern depth license
IN-174-00 / SB 6G Signature compare
IN-174-01 / SB 6G Jitter insertion license
IN-174-02 / SB 6G Jitter measure license
979-905-00 / Turbo AC dual SRC / CAP Channel
IN-171-42 / Dual channel turbo license
979-811-00 / Base kit 1 cable bundle up to 4 turbo AC
810-941-00 / GIGADIG HD
814-550-00 / Ultrawave 12G Splitter assembly (SC)
IN-250-02 / Ultrawave 12G (16) Universal RF Ports
814-641-00 / Ultrawave 12G MW Meas board
814-641-10 / Ultrawave 12G MW Meas cable
814-643-00 / Ultrawave 12G MW Synthesizer LO
814-643-10 / Ultrawave 12G MW Synth LO cable
(2) IN-251-04 / Ultrawave 12G ON Board dual AWG
IN-251-03 / Ultrawave 12G 2nd Receiver license
814-644-00 / Ultrawave 12G MW Synthesizer DR
814-644-10 / Ultrawave 12G MW Synthor cable
602-664-00 / Kit cable 10 MHZ GPO 410
979-223-40 / DSP Kit dual quad processor
979-516-00 / GPIO for 24 slots
(4) 979-359-00 / Kit filler board
814-602-01 / XW8400 System computer
IN-000-90 / Microsoft office 2003 right to use license
979-427-00 / Kit 19" LCD Monitor option
979-428-00 / Kit second 19" LCD Monitor
979-369-00 / Kit computer cart dual monitor
514-518-01 / 2GB Ram extension for XW8400
IN-401-00 / IG-Xl TSTR SVC CAEmon KLA INT
IN-749-00 / IG-Xl System license (7.07-49)
IN-115-00 / IST Year aul IG XL system license
979-455-41 / Ram 24 slot RH Enhanced manipulator
979-528-04 / Integration kit SC ram manip right
979-260-00 / Assy nitrogen purge unit jag
979-230-00 / Testhead docking if IPD and CPD, UF24
901-089-00 / WI 24 POS IEEE 488, 4 meter long
979-466-00 / (24) Slot control tool dib stifferner base kits
(2)979-467-06 / DC30 Dib strip kit
810-998-00 / Ultrawave MW Meas continuity module
810-998-01 / Ultrawave MW Synth LO continuity strip
810-998-02 / Ultrawave MW Synth DR DIB Strip
979-467-22 / GPIO Dib strip kit
979-467-13 / HDVS General purpose DIB Strip
(2) 979-467-03 / HEXVS Dib strip kit
(9) 979-467-02 / HSD S86G / GIGADIG
979-467-14 / DIB Strip for S86G
2010 vintage.
TERADYNE UltraFlexは、電子部品を迅速かつ確実に診断するために設計された強力な最終試験装置です。多層プリント回路基板などの高密度アプリケーションの部品の試験に特に適しています。その主な機能には、拡張可能なモジュラー設計、高速テストチャネル、および自動テストプログラムの生成と最適化のための高度なアルゴリズムが含まれます。これにより、最も複雑な電子部品でもテストするのに最適です。TERADYNE ULTRA FLEXのスケーラブルなモジュラー設計により、特定のアプリケーションのニーズに合わせて迅速に構成できます。単一の構成で最大24のテストチャネルを受け付けることができ、ユニバーサルテストインターフェイスは共通のテストニーズをすべてサポートします。これにより、あらゆる種類のコンポーネントを正確にテストできる非常に汎用性の高いシステムになります。速度に関しては、UltraFlexは非常に高速です。並列テストと連続テストの両方の技術を使用して、最大のテスト速度を確保しながら、潜在的なエラーを最小限に抑えます。さらに、このユニットにはテスト中心のプログラミング環境があり、テストハードウェアと制御機の間でデータをより迅速かつ効率的に転送することができます。これにより、最大の試験スループットと精度が保証されます。最後に、ULTRA FLEXは高度なアルゴリズムを使用して、自動テストプログラムの生成と最適化を行います。これにより、アプリケーションごとに効率的なテストプログラムを自動的に生成できます。また、必要に応じてテスト時間や電圧レベルなどの特定のパラメータを調整することもできます。これにより、アセットは可能な限り最も効率的で正確なテストプログラムを生成できるようになります。結論として、TERADYNE UltraFlexは、高密度アプリケーションで電子部品をテストするための優れた最終テストモデルです。モジュール設計、高速テストチャネル、および自動テストプログラムの生成と最適化のための高度なアルゴリズムにより、高精度で高品質のテストアプリケーションに最適です。
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