中古 TERADYNE UltraFlex #9110007 を販売中

ID: 9110007
Tester (24) Slots (1) RF HSD-U (UP 1600) (256) Pins (1) UltraPAC (1) UNVI80 (3) HexVS Slots used: 15 Filler cards to Teshead: 9 Power frequency: 50Hz Power voltage: 416AC DSP: 8 Core DSP Computer: Z800 Monitor: Yes Computer cart: Yes ESA / VSA: Version 3.5 / 14.22 Manipulator: RAM 24-slot, Ultraflex Docking interface: IPD, OPD, UF24 PHSB Temperature supp: Assy nitrogen purge unit IG-XL Software: IGXL 8.10 11 P109 installed Operating system software: WinXP TESTER: DRIVE C TOTAL SPACE: 152,626 MB DRIVE C UNUSED SPACE: 41,296 MB IG-XL VERSION: 8.10.11_uflx (P109) IG-XL BUILD: 03.10.14.18.44 TEST MODE: Full Check LOOP: By System SYSTEM CURRENT TEMP(MSB): 25.0 C ---------------------------------------------------------------------- **************************** SYSTEM CHECKS *************************** ---------------------------------------------------------------------- Name Part/All Total Pass Fail Invalid ---------------------------------------------------------------------- ComputerIO 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TERADYNE UltraFlexは、低コストの集積回路から複雑なコンポーネントやシステムまで、さまざまなデバイスをテストするための柔軟な最終試験装置です。高速デジタルおよびミックスドシグナル回路と高度なソフトウェア制御と診断を組み合わせたモジュラー型でスケーラブルなプラットフォームです。このシステムは、最大1ギガヘルツの速度で、2Dおよび3Dデバイスをリアルタイムでテストすることができます。ユニットは、デバイスの迅速かつ信頼性の高いテストを可能にするために一緒に動作するいくつかのコンポーネントで構成されています。プラットフォームの中核は、混合信号デバイスのテストを可能にするアナログ混合信号(AMS)回路です。この回路は、デバイスのテストに使用されるさまざまなアナログ信号のシミュレーションを可能にします。制御と診断ソフトウェアは、テストマシンの完全な制御とプログラム可能性を提供し、データ収集と分析機能も提供します。このツールには、アナログとデジタルの両方のドメインでデバイスのパフォーマンスを正確かつ高速に測定できる高速データ収集モジュールも含まれています。このモジュールを使用すると、アセットは最大24ビットの信号と最大400メガヘルツのサンプルレートを測定できます。このモデルは複数のチャネルをサポートすることもでき、複数のデバイスを同時にテストすることができます。この機器は、一連のソフトウェアツールとAPIによってサポートされており、テスト信号の可視化と操作、テストパラメータの設定、結果の分析を可能にします。さらに、このシステムには、デバイスの障害や異常を検出できる内蔵の診断機能が搭載されています。TERADYNE ULTRA FLEXは、独自の機能の組み合わせにより、幅広いデバイスをテストするための効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。モジュラーアーキテクチャにより、さまざまなデバイスやアプリケーションに簡単に適応できます。高速で高度なソフトウェア制御、診断、データ収集機能により、デバイスのパフォーマンスを迅速かつ正確に監視およびテストできます。
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