中古 TERADYNE UltraFlex #181453 を販売中
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販売された
ID: 181453
ヴィンテージ: 2004
Test system
(5) HSD-M cards
(4) HexVS
(2) DCIO
(3) VSM
HSD800 SCAN enable
Tester computer: XW8000
IG-XL Version: License_6.20
Current License: enable- HSD800_Speed400, HSD800_MemoryDepth256
2004 vintage.
TERADYNE UltraFlexは、低から高の複雑性デバイス機能テスト用に設計された、広く使用されている自動試験装置(ATE)です。これは、幅広い業界のさまざまなアプリケーションに簡単に統合されたオープンな機器アーキテクチャに基づいています。その高度な機能は、高性能な製品のテストにとって非常に貴重です。TERADYNE ULTRA FLEXには、並列テスト、ファインピッチプロービング、オンサイトのRF測定、高密度ボードテストなど、さまざまな機能があり、非常に複雑で繊細な部品のテストに最適です。高い柔軟性、相互運用性、拡張性により、単一のATEで迅速なテストプログラム実行と製品評価が可能になります。UltraFlexは、進化し続ける製品で動作するために必要な精度と速度を確保するために、複数のテストチャネルとさまざまなサイトカードをサポートする高速システムです。マイクロビアおよび密接に間隔をあけられた部品を管理することができ、さまざまなタイプのRF部品を作成し、測定します。ULTRA FLEXはソフトウェアツールと診断機能を搭載しており、最終的にはお客様の市場投入までの時間を短縮します。コンディションベースのテストとデータコンバータを使用してテストの課題を克服し、より困難な設計とコンポーネントを可能にします。このソフトウェアは、特許取得済みのアルゴリズムとメソッドを使用して、ユニット内のテストプログラムのソート、分析、デバッグを行います。TERADYNE UltraFlexは、高解像度X線画像や光学デジタル顕微鏡などの形でピンポイント精度の高いデジタル画像を取得することも可能です。統合された画像処理ソフトウェアは、欠陥を分析するために柔軟な画像認識と高精度の画像復元を提供します。TERADYNE ULTRA FLEXは、セキュアで信頼性の高いハードウェアアーキテクチャで堅牢に構築されています。高性能インピーダンス検出や直接高周波テストなど、さまざまな自動試験に最適な機能が搭載されています。UltraFlexには、包括的でユーザーフレンドリーなセットアップが含まれており、テストプログラムのすべてのパラメータを詳細に制御できます。マルチモードGUIを使用すると、ユーザーは関連するすべてのテストパラメータを簡単に理解して制御でき、手動による介入を排除してテスト時間を最適化できます。最終的に、ULTRA FLEXは最終的なテストアプリケーションに理想的なマシンであり、信頼性の高いデバイスに高い信頼性と再現性を提供し、より良い意思決定をサポートするための正確な情報を提供します。高度な機能と拡張性を備えたTERADYNE UltraFlexは、最終的なテストアプリケーションのためのゴーツーテストツールとして比類のないものを維持し続けています。
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