中古 TERADYNE UltraFlex SC #9233220 を販売中

TERADYNE UltraFlex SC
ID: 9233220
SOC Test system Ultraflex SC3-R (24) slots RAM Manipulator (2) UVS256 (2) HEXVS DOTH Hard docking (22) Vector depth: 512M (22) Data rate: 200Mbps (11) Ultrapin 1600 plus, 256 digital TERADYNE Ultraflex Computer workstation.
TERADYNE UltraFlex SCは、最小のフットプリントで最高レベルのテストスループットを提供するように設計された最終試験装置です。大量生産と新製品導入の両方のニーズに対応するため、柔軟性と拡張性に優れています。TERADYNE ULTRAFLEX-SCは、高度な並列技術のパワーを活用し、大規模な混合ノード試験環境に対応できます。このソリューションは、TERADYNEの製造テストでの長年の経験に基づいて構築されています。システムパフォーマンスを最適化し、資本コストと運用コストの両方を削減するために最新の技術を組み込んでいます。このユニットは、カスタマイズと拡張性のためのモジュラーアーキテクチャを備えています。このプラットフォームは、アプリケーション固有のソフトウェアおよびハードウェアモジュールの広範なライブラリとともに、シンプルで複雑なデバイスのテスト要件の両方に対応する標準の2レベルおよび3レベルのテストセルをサポートしています。これにより、ユーザーはマシンを特定のニーズに合わせてカスタマイズし、アプリケーションのパフォーマンスを最適化できます。ULTRA FLEX SCは、デバイステストに業界をリードする速度と精度を提供します。高速メモリ、バス、SoC、 FPGAなど、60GHzまでのデバイスをテストするように設計されています。TERADYNE ULTRA FLEX SCは、高度な高速デジタルテストシステムを使用することにより、複数のデバイスを同時にテストすることができ、テストスループットが向上します。さらに、統合されたテストルーティング機能を備えており、高速デバイス分析と診断のためのツールの内外でのデータストリーミングを提供します。この資産には、最適な性能と安定性を確保するために機器の状態を常に監視する高度なモデル診断も含まれています。メモリセルフテストやバウンダリスキャンなど、何百万ものノードでテストを実行できます。システムレベルのライフサイクル管理とメンテナンスも利用できます。このユニットは、障害を迅速かつ正確に診断し、プロセスの変動性を評価および管理し、即座にパフォーマンスパラメータをカスタマイズおよび最適化するように設計されています。UltraFlex SCは、本番環境と開発環境の両方のニーズを満たしています。顧客はそれを使用して、新しいデバイスや確立された設計を迅速かつ正確に測定および検証できます。また、業界をリードするテストツールや機器ベンダーからのさまざまなテストプログラムもサポートしています。オープンアーキテクチャにより、ユーザーはカスタムテストをテストマシンに簡単に統合できます。これにより、テスト開発と検証の時間を短縮し、新製品を自信を持って迅速に生産に投入することができます。ULTRAFLEX-SCは、最高レベルのテストスループットと柔軟性を求めているお客様に最適なツールです。TERADYNEの生産テストソリューションで開発され、実証されている先進技術を組み合わせ、最終テストアプリケーションに強力で信頼性の高いプラットフォームを提供します。
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