中古 TERADYNE UltraFlex HD #9161854 を販売中
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ID: 9161854
ヴィンテージ: 2009
SOC Test system
Quantity Description Part number
(1) UltraFLEX HD (12slot) 810-712-00
(1) UltraPin800 600-485-00
(1) HSD800-128 DSSC LIC IN-267-00
(1) HSD800-128 200MBS DATA RATE LIC IN-261-02
(1) HSD800-128 16M Pattern depth license IN-262-01
(1) HSD1000 979-331-22
(1) DSSC IN-124-80
(1) 16M Pattern depth IN-316-00
(1) 1000 MBPS Speed IN-141-10
(1) DCIO 979-390-00
(1) DC30 979-217-30
(1) HDVS 979-495-00
(24) HDVS Channels IN-403-00
(1) VHFAC 810-982-00
(1) VHFAC Source high speed license IN-160-15
(1) VHFAC Capture high speed license IN-161-15
(1) ULTRAWAVE 12G 814-641-00
(1) ULTRAWAVE12G MW Synthesizer LO 814-643-00
(1) ULTRAWAVE12G MW Synthesizer DR 814-644-00
(1) ULTRAWAVE12G, On-board dual AWG IN-251-04
(1) ULTRAWAVE, Low phase noise DUT REF IN-251-05
(1) ULTRAWAVE12G, 16 Universal RF ports IN-250-02
(1) ULTRAWAVE12G, 2ND Receiver license IN-250-03
(1) ULTRAWAVE12G, 2ND Receiver license IN-250-03
(1) ULTRAWAVE12G, Noise source IN-250-06
(1) ULTRAWAVE12G, 1-Port VNA IN-250-07
(1) ULTRAWAVE12G Splitter assembly (SC) 814-650-00
(1) Wireless modulation TLKT IN-911-00
(1) XW8400 System computer, ULTRAFLEX 814-602-01
(1) 12SLT Dual processor DSP 979-223-10
(1) Assembly docking plate engineering 979-230-01
(1) 32 Bit parallel port interface 810-523-00
(1) Integration kit, ULTRAFLEX MC, Standard manipulator, MP4XP 979-528-20
(1) ULTRAFLEX MC, FF MP4XP Manipulator 819-085-00
(1) Testhead docking IF, IPD, and OPD, UF24 979-230-00
(1) Kit, Custom handle I/F UFHD AKM 455-800-23
Test head:
Slot Name Part number
2 Ultrawave measure board 805-041-00
6 DCIO Board 974-390-02
10 Ultrawave synth ref board 805-044-00
12 VHFAC Board 805-014-00
14 HSD-I Board 974-242-10
16 HSD-M Board 974-331-44
18 DC30 Board 974-217-30
20 HDVS Board 974-232-00
22 Ultrawave synth Lo board 805-043-00
24 Support board 974-221-03
24 XGEM Board(On support board) 956-364-00
Cabinet:
Slot Name Part number
- DSP Computer 361-942-04
Connected: Handler
2009 vintage.
TERADYNE UltraFlex HD Final Test Equipmentは、デジタルデバイスの信頼性と再現性の高い高速テスト用に設計された、包括的でハイエンドの多機能テストおよび測定プラットフォームです。それは、最高レベルのテストカバレッジ、診断、パフォーマンスを提供しながら、手動テストの必要性を排除する、完全で強力で費用対効果の高いソリューションです。TERADYNE ULTRAFLEX-HDプラットフォームは、古典的なモジュラーアーキテクチャに基づいています。ハイエンドデジタルシステム（DSx）と革新的なデジタルベクトルジェネレータ（DVG）プラットフォームを統合しています。それは低速および高速テストの両方の必要性を満たすためにさまざまなハードウェア、ソフトウェアおよびインターフェイスの選択を提供します。テストエンジニアは、独自のテストプログラムを設計したり、プラットフォームの定義済みテストアプリケーションのライブラリを活用したりできます。プラットフォームのハードウェアコアには、ラベリングとロジック制御を容易にするためのアナログおよびデジタル機器の配列と組み合わせて、検出および制御サブシステムがあります。このプラットフォームは汎用性の高いアーキテクチャを備えており、非常に構成可能で、優れたパワーと拡張性を備えています。Digital SystemsとDigital Vector Generatorプラットフォームを統合することにより、ULTRA FLEX HD Final Test Systemは、マルチインプットデバイスの高速フォルト解析とテストカバレッジを提供することができます。内蔵のテストポイント（BTP）テクノロジーは、電流および電圧測定を含むDCパラメトリックテストの基本的かつ高度な機能を提供します。一方、強力なベクトルジェネレータ機能により、複雑または重要なデバイスの超高速スキャン、テスト、デバッグが可能です。このユニットには、テストプログラム開発プロセスを合理化するためのグラフィカルソフトウェアインターフェイスも内蔵されています。I/Oおよびメモリコンポーネントのグラフィカルビューにより、ユーザーの可読性が向上し、テストプログラムのデバッグ時間が短縮されます。TERADYNE ULTRA FLEX HD Final Test Machineには、簡単なナビゲーションと制御機能を提供する直感的なオペレータインターフェイスも付属しています。全体として、ULTRAFLEX-HD Final Test Toolは、効率的で反復可能な高速テストのための包括的で強力で費用対効果の高いソリューションです。手動テストを排除し、デジタルデバイスの迅速で信頼性の高いテストを可能にする比類のないカバレッジ、診断、パフォーマンスを提供します。
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