中古 TERADYNE UltraFlex HD #9160784 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 9160784
ヴィンテージ: 2008
SOC Test system
Qty Part number Description
(1) 810-712-00 UltraFlex HD (12slots)
(1) 600-485-00 UltraPin 800
(1) IN-267-00 HSD800-128 DSSC LIC
(1) IN-261-02 HSD800-128 200MBS Data rate LIC
(1) IN-262-01 HSD800-128 16M Pattern depth
(1) 979-331-22 HSD1000
(1) IN-124-80 DSSC
(1) IN-316-00 16M Pattern depth
(1) IN-141-10 1000 Mbps Speed
(1) 979-390-00 DCIO
(1) 979-217-30 DC30
(1) 979-495-00 HDVS
(24) IN-403-00 HDVS Channels
(1) 810-982-00 VHFAC
(1) IN-160-15 VHFAC Source High speed
(1) IN-161-15 VHFAC Capture High speed
(1) 814-641-00 Ultrawave 12G
(1) 814-643-00 Ultrawave 12G MW Synthesizer LO
(1) 814-644-00 Ultrawave 12G MW Synthesizer DR
(1) IN-251-04 Ultrawave 12G. On-board dual AWG
(1) IN-251-05 Ultrawave, Low Phase Noise dut ref
(1) IN-250-02 Ultrawave 12G, 16 Universal RF ports
(1) IN-250-03 Ultrawave 12G, 2nd Receiver License
(1) IN-250-06 Ultrawave 12G, Noise source
(1) IN-250-07 Ultrawave 12G, 1-port VNA
(1) 814-650-00 Ultrawave 12G Splitter assembly (SC)
(1) IN-911-00 Wireless modulation TLKT
(1) 814-602-01 XW8400 System computer ultraflex
(1) 979-223-10 12SLT Dual processor DSP
(1) 810-523-00 32 Bit Parallel port interface
(1) 979-528-20 Integ Kit. ultraflex MC. STND MANIP. MP4 XP
(1) 810-127-00 MW / RF probe kit, 24" Hole, TGR
(1) 810-137-20 I/F HNG All 12" WFR OPN BL
(1) 810- 115-06 Kit, signal TWR 900 Pin IAS TGR / FLEX
(1) 810-150-10 Probe card debug tool
(1) 819-086-00 Ultraflex 12 engineering cart
Test Head
Slot Part number Name
2 805-041-00 UltraWave measure board
6 974-390-02 DCIO Board
10 805-044-00 Ultrawave synth ref board
12 805-014-00 VHFAC Board
14 974-242-10 HSD-I Board
16 974-331-44 HSD-M Board
18 974-217-30 DC30 Board
20 974-232-00 HDVS Board
22 805-043-00 Ultrawave synth Lo board
24 974-221-03 Support board
24 956-364-00 XGEM Board (On Support Board)
Cabinet:
361-942-04 DSP Computer
No missing parts
2008 vintage.
TERADYNE UltraFlex HDは、パフォーマンスを最適化し、コストを削減し、自動化されたテスト環境で高い信頼性を実現するために設計された最終的なテスト機器です。高度なFlash DTS （Dynamic Test Selection）機能により、ピンやテストチャネルが少ないテストカバレッジを確保できます。TERADYNE ULTRAFLEX-HDは、高いスループットと柔軟性を提供する高性能のUniversal Execution Platform （UEP）を使用しています。このシステムは、1日あたり最大200万件のテストをサポートし、336のテストサイトの最大容量を持っています。このユニットは、ダウンタイムを最小限に抑えるための高度なテスト分析とレポート機能を提供します。ULTRA FLEX HDは、より高い精度と信頼性を提供することを可能にするさまざまな機能を備えています。これらの機能には、サイトあたり最大8 GS/秒、低遅延、サイトあたり最大600 Mb/秒のフラッシュデータキャプチャ、広いダイナミックレンジ、信頼性と耐障害性に優れた設計など、高解像度のサンプリングレートが含まれます。ULTRAFLEX-HDには、さまざまなプロトコルやアプリケーション向けの包括的なテスト開発ツールを含むソフトウェアスイートも装備されています。このソフトウェアは、障害検出、冗長制御、シミュレーションなどの機能もサポートしています。このマシンはまた、自動テスト検証プロセスを提供し、ユーザーの要件に合わせてカスタマイズ可能なテスト戦略を提供します。このツールは、Windows、 Linux、 VxWorksなどのさまざまなオペレーティングシステムで動作します。さらに、In-Circuit、 Boundary Scan、 Functional、 JTAG、 IPベースのテストインターフェイスなどの複数のテストインターフェイスもサポートしています。TERADYNE ULTRA FLEX HDの機能は、さまざまな診断ツールとオプションでさらに拡張できます。自動テストパターン生成（ATPG）ツール、電磁干渉（EMI）緩和ツール、資産データ回帰テスト（SDRT）、信頼性解析などがあります。これらのツールは、UltraFlex HDと組み合わせて使用して、テスト中のデバイスの最高の信頼性を確保することができます。TERADYNE UltraFlex HDは、強力な画期的な機能と最先端の機能を備えており、高性能で信頼性の高い最終テストモデルをユーザーに提供します。本装置により、最終製品の信頼性を最大限に高めながら、生産試験システムに伴うコストとダウンタイムを削減できます。
まだレビューはありません