中古 TERADYNE TS128 #9194361 を販売中

製造業者
TERADYNE
モデル
TS128
ID: 9194361
ヴィンテージ: 2007
ICT Tester Sys control (13) Pincards PIO Card AFTM Card ICA Card DUT Power 7 2007 vintage.
TERADYNE TS128 Final Test Equipmentは、高速で低コストのプラットフォームで高度な半導体テストとバーンイン機能を提供します。この高品質テスターは、全体的なテストスループットを向上させ、テストコストを削減するように設計されています。堅牢なアーキテクチャ、強化された制御機能、強力な診断ツールを備えています。このシステムは、ロジックとディスクリートの両方の混合信号デバイスをテストすることができます。ディープメモリアーキテクチャを備えているため、異なるデバイスのテスト条件を同時に保存しながら、高いスループットを提供できます。さらに、最大10MHzの速度で複数のアドレスとパターンを持つテストシーケンスを生成できる高速アドレスジェネレータを備えています。このユニットは、複数のハードウェアおよびソフトウェアプラットフォームを統合し、包括的なテストマシンソリューションを提供します。テストスループットを最大化するために、TERADYNE TS 128は強力なベクトルアーキテクチャを採用しています。このアーキテクチャにより、テスト中の各デバイスの特性を正確にキャプチャすることができ、より正確なテスト結果を得ることができます。このアセットは、デバイス単位でより多くの制御を可能にする高度な制御構造を採用しています。この構造により、試験プロセスの全体的な精度と効率が向上します。このモデルには、オープン障害、ショート障害、クロスコンディション障害を検出する機能も内蔵されています。さらに、低周波テストと校正機能を実行できます。さらに、ユーザーが問題をすばやく特定してトラブルシューティングできる診断ツールを備えています。このスイートには、テストプロセス中にエラーを追跡するために使用されるError Logbookと、トラブルシューティングを支援する回路図ビューアが含まれています。TS128 Final Test Equipmentは、複雑な混合信号デバイスの迅速なテストとバーンインのための効率的で費用対効果の高いソリューションを提供するように設計されています。ディープメモリアーキテクチャ、高度な制御機能、強力な診断ツールにより、正確なデバイス情報を迅速に収集できます。このシステムは、半導体テストのニーズに合わせて信頼性と手頃な価格のソリューションを探している企業に最適です。
まだレビューはありません