中古 TERADYNE MicroFlex #9363434 を販売中

TERADYNE MicroFlexは、メモリやマイクロコントローラから高速ASIC、デジタル、アナログ、ミックスドシグナルICまで、さまざまな電子機器向けに設計された最終試験装置です。単一のプラットフォームで拡張可能なテストカバレッジを提供し、生産およびエンジニアリングの両方の使用に適しています。MicroFlexシステムは、テストプロセスを容易にするためのハードウェア、ソフトウェア、およびサービスのフルレンジが付属しています。強力なオペレーティングユニットは、テストプログラムの統合と自動化を簡素化するグラフィカルユーザーインターフェイスであるAdvanced Test View （ATV）を通じて効率的なテスト開発と管理を容易にします。利用可能なテストソフトウェアのライブラリには、マシンのハードウェアとシームレスに動作するように設計されたテストプログラム発生器、診断ツール、およびシミュレーションソフトウェアが含まれています。ICのテストカバレッジのために、このツールは、アプリケーション固有の高速テスト機能の範囲を提供します。パラメトリックテスト、デバイスID、ボードプログラミング、アセットテストなど、さまざまなアプリケーションに使用できます。これらのテストは、高速デジタルI/O （DIO）またはデジタルベクトルプロセッサ（DVP）技術を使用することで可能になり、後者は最大4 GHzの速度でチャンネルレベルのテストが可能になります。このモデルは、伝統的な半導体プロセスと先進的な半導体プロセスの両方に対応するさまざまな電力および温度オプションを提供します。VCLK、 IDDQ、 VDDQ、 LDO制御などの電源制御アルゴリズムもサポートされており、デバイスが機能する確率を保証します。ATP （Automated Test&Programming）機能に加えて、TERADYNE MicroFlex機器には、ICや回路基板の非破壊検査を提供するための強力なICT （In-Circuit Test）ツールが搭載されています。これらのツールには、FeedFlex、テスト実行中のデバイスへの永久的な損傷を防ぐ内蔵のマイクロ中断技術、DFX（テスト可能性設計）、およびラピッドプロトタイピング用のFPGAdb（フラッシュプログラミングとデバッグ）ツールが含まれます。MicroFlex Final Test Systemは、堅牢で柔軟性が高く統合されたアーキテクチャにより、あらゆるテスト要件に最適なソリューションを提供し、テスト範囲の拡大、市場投入までの時間の短縮、製品品質の向上を実現します。