中古 TERADYNE J973 #9177562 を販売中

製造業者
TERADYNE
モデル
J973
ID: 9177562
ウェーハサイズ: 8"-12"
ヴィンテージ: 2000
Tester, 8"-12" Process application: Wafer sort Copper process Batch / Single wafer: 25" Features 512 Channels AP 512 Channels wide ADS fancut (200 MHz) (2) 50 A GVS 64M LVM 128 Channels of 256K VMO 200 MHz MTO (48) 128M SPO CE Marked 2000 vintage.
TERADYNE J973は、幅広い製品テストおよびデバッグ要件向けに設計された最先端の最終試験装置です。これは、複数のユニークなテスト容量、統合されたハンドラ、高速信号生成など、いくつかのユニークな機能を1つの使いやすいパッケージで提供します。このシステムは、最大48個のユーザー定義のテストコンデンサに対応できます。このコンデンサは、ユニット・オン・チップ(SoC)システム、集積回路、マイクロプロセッサなどのさまざまなデバイスで特定の電気パラメータを迅速かつ正確に測定するように設計されています。ユーザー定義のテストパラメータにより、限られたスペースの任意の数のデバイスで迅速かつ正確にテストを実行できます。大量の生産の適用のために完成して下さい。このマシンには、デバッグアクセスのための業界標準のテストアクセスポート(TAP)のサポートと同様に、迅速なインラインデバイスデバッグを実行できる内部デバッグターミナルも含まれています。TERADYNE J-973の統合ハンドラモジュールは、デバイスに自動的にフィードしてテストするように設計されており、全体的なテスト時間を短縮します。統合されたハンドラモジュールは、さまざまな業界標準のハンドラアームと、テストに必要なすべての特殊コンポーネントハンドラで使用するように設計されています。また、ハンドラモジュールは、試験装置やその他のオートメーションシステムと容易に統合することができ、試験プロセス全体を自動化することができます。さらに、J 973には、動作範囲全体にわたってリアルタイム信号をシミュレートおよびキャプチャできる高速信号生成などの高度な測定技術も組み込まれています。高速信号の生成により、標準的なテストベクトルを必要とせずに、合格および失敗テストの余白を決定することができます。これにより、テストプロセスが高速化され、ツールは数百のデバイスをほぼリアルタイムで識別およびデバッグできます。J973は、カスタマイズ性の高い使いやすいテストアセットを提供し、限られたスペースでほぼすべてのデバイスのテストを可能にし、自動ハンドラ操作や高速信号生成などの高度な機能を提供します。本製品は、本番テスト運用や故障デバッグ運用に適しています。
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