中古 TERADYNE J973 #9131603 を販売中

TERADYNE J973は、生産段階における製品の自動試験装置です。プリント基板（PCB）や電子機器製造業界で使用されるその他の部品の高速試験および選別用に設計されています。このシステムは、アナログテスト、境界スキャン、混合信号、デジタルテスト機能など、幅広いテスト機能を提供します。モジュラーアーキテクチャにより、複数のモジュールを同時にテストして効率を高めることができます。TERADYNE J-973は、高速テストアーキテクチャにより、大容量ボードの並列処理用にも設計されています。シリアル方式で試験運用を行い、お客様の試験時間の短縮と歩留まりの向上を実現します。J 973単位は決定論的なアナログ測定をするのに多数の差動デジタルPin転換可能なアナログ多重化（DDPSAM）のトランシーバモジュールを使用します。これらのチャネルは、電流、電圧、周波数応答、誘電吸収など、さまざまなタイプの測定に個別にプログラムすることができます。DDPSAMチャネルは、電源や過渡状態の正確なテストも可能です。マシンのソフトウェアプラットフォームであるTERADYNE TestCenter Softwareは、基板やその他の部品をテストするために使用されるテストプランの開発と実行を可能にします。必要なテストパラメータを設定し、適切なテストを選択し「、バッチ」または「自動シーケンス」モードでテストを実行することができます。ソフトウェアは、故障データの分析だけでなく、テスト履歴を追跡する機能を可能にします。また、TERADYNE J 973は、外部インターフェイスユニット（EIU）、プログラミングユニット（PU）、およびその他の自動試験装置（ATE）など、さまざまな外部システムと通信できるいくつかのインタフェースを備えています。EIUは、製品のローディングとアンロードをテストするためのツールを制御するだけでなく、必要に応じて補助電源を供給することができます。PUはアセットに接続でき、ユーザーはTERADYNE TestCenterソフトウェアを介してモデルを構成できます。ATEは、顧客固有のニーズのために顧客ATEと通信するために使用されます。J973装置は、大量の基板試験および選別ニーズに最適です。高速測定とさまざまなテストとパラメータを実行する能力により、電子機器製品を迅速かつ正確にテストすることができます。モジュラーアーキテクチャと統合インターフェースにより、お客様のシステムに簡単に統合できます。システムのソフトウェアプラットフォームは、複雑な基板やコンポーネントの簡単なプログラミングとテストを可能にし、顧客が最高品質の結果を得ることを保証します。