中古 TERADYNE J921 #9392232 を販売中

TERADYNE J921は、小型家電から自動車および航空宇宙部品までの高ピン数デバイスを迅速かつ正確にテストするために設計された、完全に自動化された最終試験装置です。「フレキシブル・エレクトロニクス・テスト」（FET）アーキテクチャを使用して設計されており、さまざまな試験戦略を可能にし、多くの種類の生産試験ニーズに対応する最先端の試験ステーションを提供しています。J921は、最大2,500ピンの高速テストヘッドと高解像度データ取得を備えています。高速スイッチングマルチプレクサと専用フロントエンド処理システムを備えており、64同時ピンまたは128同時論理ピンをサポートできます。TERADYNE J921は、統合されたクロックと電力要件、および利用可能な高電圧パルスジェネレータにより、さまざまなデバイスやテストシナリオに対応できます。このユニットにはデータ転送サービスも含まれており、本番テスト結果またはデバイスのファームウェアへのアクセスを提供します。J921は、デジタルとアナログテストの両方をサポートしています。DC解析、動的オンチップ診断、一時的な波形解析、パワーサイクリングなど、さまざまなパラメータを測定できます。さらに、デバイスのパフォーマンスを診断するために、周波数や電流電圧解析などのパラメトリックテスト機能も用意されています。TERADYNE J921には、密接に同期されたステップマシンなど、特定のテスト条件に選択できる一連のオプションもあり、接触抵抗を低減し、信号の整合性を向上させます。J921は、現代の製造環境の生産ライン試験要件を満たすように設計されています。このツールはスループットに最適化されており、完全に自動化されたテストプランの開発と実行を提供します。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用して、エンジニアは迅速にテストプランを設定し、結果を簡単にデバッグすることができ、幅広いテストアプリケーションに適しています。さらに、不良デバイスの修復にかかる時間を短縮するために、ユーザーはデバイス修復レポートを作成できます。TERADYNE J921の包括的な製造試験機能とそのインタフェースと試験速度を組み合わせることで、多くの生産ライン機器の迅速かつ正確な試験に適しています。その柔軟なエレクトロニクステストアーキテクチャとさまざまなテストオプションにより、高いピンカウントと小型家電部品の両方に理想的な生産ラインテストアセットとなります。高速かつ効率的なデータ転送サービスは、生産ラインのパフォーマンスに大きな影響を与える強力なアクセスおよび分析機能をユーザーに提供します。