中古 TERADYNE J750 #9410495 を販売中

TERADYNE J750は最先端の自動テストプラットフォームで、高度な最終テストアプリケーション向けに設計されています。オールインワンのロープロファイルフォームファクタを備えており、スペースが限られ、テストカバレッジの向上が必要な環境に適しています。TERADYNE J 750は、単一のベクトルベースのテスターを備えており、インサーキットテスターの能力を超えた回路を必要とする動的なテストアプリケーションをユーザーに提供します。このテスターは、CPU、 ASIC、 ASSPシステム、メモリデバイスなどの複雑な高速デバイスを並列テストでテストすることができます。Analog、 Mixed Signal/Digital、 Embedded Coreテスト、ソフトウェア、カスタムオンボードプログラミングなど、幅広いテストリソースから選択できます。これにより、トータルテストカバレッジと柔軟性が可能になります。J750はシングルコア80MHzプロセッサを搭載しており、テストプロセスを最適化し、正確なSignal-To-Noiseテストを可能にします。J 750は、4つのデジタルI/O、 4つのアナログI/O、 4つの高電流ソース、2つの高解像度ソースで構成される8サイトプログラマブルテストヘッドを内蔵しています。これにより、さまざまな技術をテストするマルチサイトプログラムやアプリケーションが可能になります。自己診断および障害診断を提供するプログラム可能なUUT電圧および電流検出ラインは、TERADYNE J750で利用できます。TERADYNE J 750と統合されたTERADYNE E-5900電圧ソース測定ユニット（VSMU）は、テスターと連携してシステム外の電圧遷移テストを提供します。このE-5900は最大24Vの電源電圧が可能で、最大500mAの電流を供給できます。J750はまた、2U高密度スイッチングシステムのシリーズを提供しています。これにより、ユーザーはテストシステムにすばやく簡単に接続できます。J 750はイーサネットインターフェイスを介してホストコンピュータに接続されており、テスト設計、実行、およびデータ分析のためのWindows互換ツールのスイートが利用可能です。TERADYNE J750は、さまざまなATEソフトウェアもサポートしており、ユーザーは強力で柔軟で信頼性の高いテストプログラムを開発できます。高度なテストプログラム機能と既存システムへの容易な統合により、高速で最終的なテストアプリケーションに最適です。