中古 TERADYNE J750 #9393577 を販売中

TERADYNE J750は、さまざまな大量の高速テストタスクを実行できる最先端の最終試験装置です。TERADYNE J 750のアーキテクチャは、ハイスループットテスト用に特別に設計されており、構成可能なシステムサイズと最大I/Oスループットを可能にするモジュラー設計です。このユニットは、高スループットで多機能な組込みプロセッサとマルチチャネル多機能テスターを備えているため、異なるICを同時にテストすることができます。また、欠陥検査、接触抵抗、誘電損失、絶縁抵抗、熱試験および電気波形測定、その他の測定、制御、検査タスクなど、さまざまな試験機能を提供しています。J750のハイスループット機能は、分散ツールアーキテクチャにより、さまざまな島々またはテスターのブロックに異なるテスト名を割り当てることができ、最適なスケジューリングで最大のスループットを提供するように設計されています。インシステムメモリとコントローラを使用すると、各島は同期または非同期のテストクロックを維持でき、ユーザーはいつでもテストシーケンスを切り替えることができます。このアセットには、モジュールの自動変更機能も備えており、ユーザーは中断を最小限に抑えてさまざまなテスト操作を切り替えることができます。テスト精度と速度の面では、J 750には50チャネル以上のテストハードウェアが搭載されており、より多くのデバイスを同時にテストし、スループットを最大化することができます。このモデルは、最大800MHzでテストすることができ、低速テストと比較して高速かつ正確な結果を保証します。また、複数のテスターを並列に操作して、異なる信号を同時に伝送することも可能です。TERADYNE Universal Semiconductor Interface （USI）では、異なるテスト設定を使用することができ、以前の構成の変更やアップグレードを費用対効果の高い方法で行うことができます。TERADYNE J750のソフトウェアコンポーネントも同様に印象的で、高度なプログラミングとデバッグツールをサポートしているため、テストシーケンスを簡単に作成、入力、変更できます。また、オプションの分散制御とアイランドテスターの同期を備えたマルチチャネルコントローラも備えています。さらに、TERADYNE J 750用のテストプログラムの書き込みとシミュレーションを可能にする幅広いテスト生成ツールをサポートしています。J750は強力で汎用性の高い最終テストユニットで、さまざまな複雑なテストニーズに対応する高速、高スループット、費用対効果の高いソリューションを提供します。モジュラーアーキテクチャ、ユーザーフレンドリーな機能、幅広いテスト機能を備えたJ 750は、大容量のテスト操作に最適です。