中古 TERADYNE J750 #9379602 を販売中

TERADYNE J750 Final Test Equipmentは、マイクロプロセッサやその他の集積回路を試験するために設計された高速で高性能なシステムです。高度なハードウェアとソフトウェア技術を組み合わせ、統合されたマイクロプロセッサテストソリューションを提供します。TERADYNE J 750は、最終テストシステムのTERADYNEファミリで最も強力で汎用性の高いユニットであり、スループットとテスト時間を大幅に向上させ、信頼性の高い高速および高精度のテスト結果を提供します。J750は強力なコントローラと独自のソフトウェアを統合し、幅広いボードオプション、インターフェース機能、測定機能を備えています。コントローラは、テストプログラムを実行し、データを保存し、マシンを制御するためのプラットフォームを提供します。これにより、プログラマはテスト中のデバイスの正確な仕様に合わせたテストプログラムを設計することができます。オンボードソフトウェアには、テストプログラムを作成したり、既存のプログラムをデバッグしたり、J 750のパフォーマンスを監視したり、テスト結果を保存したりするための使いやすいツールが含まれています。ソフトウェアはまた、さまざまな言語やその他の開発技術をサポートしています。TERADYNE J750は、複数のテストアプリケーション、インターフェイスカード、測定システム、カスタム機能へのアクセスの深さなど、幅広いボードオプションをユーザーに提供します。ボードには、ハーフページと1Uの高さのフォーマットなど、さまざまなフォームファクタがあります。ボードオプションには、テストプログラムと並行して実行されるカスタマイズ可能なBIST（ビルトインセルフテスト）機能も含まれています。BIST機能は、テスト中に短絡や開回路などの障害を検出し、破損または除去された部品を識別することができます。TERADYNE J 750は、デジタルおよびアナログを含む幅広いインタフェース機能を提供します。標準的なデジタルインターフェイスには、LVDS （Low Voltage Differential Signaling）とParallel/Serial Interface （PSI）があります。標準アナログインターフェイスには、シグマデルタとパルス幅変調（PWM）があります。このツールは、測定用に複数のデジタル-アナログおよびアナログ-デジタル・コンバータも提供します。J750 Final Test Assetは、信頼性の高い高速、高精度のテスト結果を提供し、スループットとテスト時間を大幅に改善します。このモデルの強力なコントローラと統合ソフトウェアは、幅広いボードオプションとインターフェース機能と組み合わされており、J 750はマイクロプロセッサ、集積回路、その他の複雑な電子機器のテストに最適な機器です。