中古 TERADYNE J750 #9315889 を販売中

TERADYNE J750は、コスト効率に優れた拡張性の高いテストソリューションを提供するために設計された最終的なテスト機器です。このシステムは、アナログ、デジタル、MEMS、 RFおよび光学試験技術の最適化された組み合わせ、ならびに大容量の回路内テストを提供し、すべての試験アプリケーションに究極のカバレッジを提供します。TERADYNE J 750 Final Test Unitは、幅広いアプリケーションソフトウェアとデザインツールによってサポートされており、お客様の既存のテスト環境と既存のテスト機器とのインタフェースを可能にします。このツールの中心には高速コントローラがあり、最大32ギガサンプル/秒（Gsps）を提供し、最大1,024ピンと16の非ピンI/Oチャネルを処理するため、優れた性能と低オーバーヘッドを備えています。J750は、アナログ、デジタル、MEMS、 RFテストチャンネル用の高度な内部自動テストパターン生成（ATPG）アルゴリズムも備えており、最大のテストカバレッジを可能にします。Dynamic but Efficientテストパターンを使用すると、低消費電力のテスト環境も可能になり、J 750は電力消費アプリケーションに最適です。オンボードのSmart MemoryとEthernet接続は、競合するソリューションに比べてもう1つの利点を提供し、お客様は既存のテストプログラムとソフトウェアライブラリを簡単に管理できるようにします。さらに、TERADYNE J750は、アナログとデジタルの両方のドメインで最大20種類の波形を生成できる内蔵波形ジェネレータを備えており、より迅速で包括的なデバッグと生産テストを可能にします。TERADYNE J 750は、自動フォルトマッピングとクロストーク/スキュー検出を備えた高度なフォルトカバー解析（FCA）も備えており、複雑な設計障害の分析を支援します。また、FIST （Fault Isolation Stress Test）機能を使用すると、テスト結果の信頼性が向上し、誤った故障、検出失敗、およびプローブ誘発障害が減少します。さらに、J750は特許取得済みの「Loop-Through」テストアーキテクチャを活用しており、マルチチャネルデバイスの高度なテストを迅速かつ効果的に行うことができます。結論として、J 750 R750は、IoT/接続アプリケーションと複雑なデバイス設計の両方のために設計された、包括的で費用対効果の高い信頼性の高い最終テストモデルです。自動化されたATPG、インテリジェントメモリ、さまざまな波形ジェネレータ、FCA機能、FIST、ループスルーテスト、高度なテストソフトウェアなどがあり、統合されたテスト開発と既存のテスト環境との円滑な統合を可能にします。