中古 TERADYNE J750 #9274767 を販売中

TERADYNE J750は、高速デジタル回路やアナログ部品など、さまざまな複雑な製品をテストするために設計された最終試験装置です。マイクロプロセッサ、DRAM、 ASIC、 SoC、 FPGAなど、さまざまな製品をテストすることができます。このシステムは、マルチサイト、多機能、および低速から高速のアプリケーションの組み合わせをテストすることができます。この柔軟で費用対効果の高いテスターは、多くの組織が生産プロセスを改善するのに役立ちました。TERADYNE J 750は強力なハードウェアとソフトウェアサポートを備えています。テスターの制御、操作、監視に使用されるUT-Lite Unitソフトウェアを搭載しています。高速コアプロセッサにより、大量のデータを容易に処理できます。このツールには高電圧パワーアンプが含まれており、最大250アンペアの電流を供給してデバイスにテスト中の電力を供給できます。また、境界スキャンテストやJTAGテストなどのさまざまなデジタルテスト機能も提供しています。アセットは、J750とJ 750 MultiSiteの2つの構成で利用できます。TERADYNE J750はシングルサイトアプリケーションテスト用に設計されており、マルチサイトモデルはマルチサイト機能を提供します。さらに、各デバイスをテストするために必要な波形の種類に応じて、2種類のピンエレクトロニクスを備えています。それは適用テスト、診断および特性化のためのDFTのテストベンチのフルスイートが装備されています。テスト機能に関しては、TERADYNE J 750は幅広いオプションを提供しています。これは、単一のテストサイクルで複数の製品をテストする機能を持っており、テスト時間を短縮するのに役立ちます。また、インサーキットテストや機能テストにも使用でき、プロトコルテストのサポートを提供します。さらに、システムのキャリブレーションやデバイスの特性評価など、包括的な故障解析機能を提供します。全体的に、J750はあらゆる生産試験要件に最適です。その高速デジタルおよびアナログテスト機能は、効率的で強力なソフトウェアおよびハードウェアと相まって、製品の品質と信頼性を確保するための理想的なソリューションです。これは、複雑な高速デジタルコンポーネントをテストするための費用対効果の高い信頼性の高いソリューションです。