中古 TERADYNE J750 #9265304 を販売中

TERADYNE J750 Final Test Equipmentは、今日最も複雑なSoCデバイスのメーカーのニーズを満たすように設計された高度で高性能なテスターです。TERADYNE J 750は、システムレベルのアーキテクチャと高速性能解析によって設計されたスケーラブルなハードウェアとソフトウェアを組み合わせ、効率的な高生産性テストを可能にする高度なテスターです。最大16のテストサイトをサポートし、最大400万のデジタルチャネルと2億のデジタルスキャンテストの構成可能なオプションを備えています。テスト時間を短縮するために、J750は、加速モード試験、高度な同期およびクロックリセット機能、スルーシリコンビア（TSV）サポート、プログラム可能なテストヘッド技術、およびリアルタイムテストレポートなどの高度な診断および高速パラメトリック機能を提供します。テスターは拡張性が高く、将来の技術に電力と精度を提供します。DRAM、 SRAM、 Flash、 PCI Expressなどの幅広いSoCメモリ技術や、ミックスドシグナルデバイスのテストに対応しています。低消費電力モードでは、最も低い電力設定でも自動テストとデバッグが可能です。J 750のパワーと性能により、要求の厳しいハイエンドデバイス試験に最適です。このテスターは、大量のテストソリューション、低コストのテストソリューション、カスタムユニットオンチップ（SoC）デバイス試験など、さまざまなアプリケーションに適しています。TERADYNE J750は、高度なデータロギング、オンチップパラメトリックテスト、埋め込みインターフェイス機能などの高度な機能も備えています。その強力なデバッグ機能には、リアルタイムトレーシング、統計分析、レポートなどがあります。TERADYNE J 750は、強力な機械統合とオートメーション機能も備えています。XML、 Webサービス、リモートアクセスを介したカスタムインターフェイスをサポートしています。さらに、テストプログラムの迅速な構築とコンポーネントの統合を可能にするユーザーフレンドリーなビジュアルツールビルダーが装備されています。J750は、今日のSoCデバイスのますます複雑化するデバイス技術と設計を処理するための理想的なテスターです。スケーラビリティ、パフォーマンス、診断機能、統合機能を備え、今日のメーカーにとって理想的な選択肢です。