中古 TERADYNE J750 #9265243 を販売中

TERADYNE J750は、最終試験および検査アプリケーションに効率的で信頼性の高いソリューションを提供するように設計された先進的なモジュラーインサーキット試験装置です。システムはメインフレームとテストモジュールで構成され、個々のテストチャネルまたはテストサイトを作成するために使用されます。デジタル、アナログ、境界スキャン、および高いスループットと並行して最高の複雑性の機能テストを実行することができます。このユニットのモジュラー設計により、企業はマシンを正確なテスト要件に合わせてカスタマイズしながら、ハイスループットテスト機能を提供できます。ツールのコアは、テスターのメインフレームで構成されており、個々のテストサイトとして機能する最大4つのモジュールを保持できます。メインフレームの各テストサイトには、5つのテストチャンネルを含む2つのドライバ/レシーバボードがあります。これらのボードは、テストモジュールとUUT （Unit Under Test）間の電力と通信を提供するだけでなく、テスト操作のタイミングと同期を管理するための責任があります。メインフレームの各テストサイトには、独自のテストヘッドコネクタと電源が装備されており、柔軟性と精度の向上をテストすることができます。このアセットは、デジタルI/Oモジュール、ICテストモジュール、ICカードリーダ、およびアナログ遷移検出（ATD）モジュールなど、さまざまなテストモジュールカテゴリに接続できます。さまざまなモジュールにはさまざまな種類のテスト信号と構造が含まれており、最も複雑なデジタルまたはアナログのテストシーケンスを正確に処理することができます。各デジタルI/Oモジュールは通常最大18チャネルをサポートしますが、ATDなどのアナログ回路はあらゆる種類の小さな信号レベルのテストを可能にします。この装置は、お客様がテストプロセスを正確な仕様に合わせて調整できるように、専用のテストソフトウェアおよびソフトウェア開発ツールと組み合わせることもできます。このソフトウェアは、テストアイテムの識別とロット制御のためのカスタムテストパラメータ、テンプレート、トレーサビリティ情報を簡単に作成できます。さらに、最新の欠陥データ解析、複雑なテストや診断を実行するための組み込みアルゴリズム、シンプルな回路から高度なシステムまで、さまざまなレイアウトとの互換性を提供します。全体として、TERADYNE J 750 Final Test Systemは、最も複雑な製品でも精度と速度をテストするための広範なプラットフォームを提供します。これにより、製品ニーズに合わせて簡単に構成でき、効率的な試験ユニットを探している企業にとって理想的な選択肢となります。