中古 TERADYNE J750 #9265242 を販売中

TERADYNE J750は、電子デバイスをテストするための高度に洗練された最終試験システムです。デバイスの基本的なデバッグから、バーンイン、車載セーフティクリティカル技術、無線周波数テストなどの高解像度アプリケーションまで、さまざまなテスト環境で使用できます。高精度・高速化が求められるメーカーに最適です。TERADYNE J 750は、最大8つのテストモジュールを備えたモジュラー設計を備えています。モジュールあたり64ピンまでのデバイスの複雑さをテストでき、最大1024の並列テストチャネルを提供できます。高速ピン多重化により、従来システムJ750最大8倍の速度で試験することができます。記録された結果の品質と完全性を確保するために、テスト中に統計情報を記録することもできます。J 750にはTERADYNE VirtuaLabソフトウェアが搭載されており、テストプログラムをプログラミングしてテストプロセスを制御するための直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを提供します。このソフトウェアはまた、ベクトルベースの波形プログラミングと1000以上のテストのライブラリを提供しているため、テストで高精度を簡単に達成できます。高度なハードウェアアーキテクチャにより、内部制御を介して各ピンのテストレベルを定義できます。さらに、TERADYNE J750は、さまざまなデータ分析ツールと柔軟性を提供し、幅広い試験要件に対応します。統合およびリムーバブルメモリ、専用のテストプログラム、キャリブレーション機能、マルチサイト機能の強化により、複数のサイトを同時にテストできます。TERADYNE J 750は、高度な機能に加えて、エンタープライズリソースプランニング（ERP）システムと統合できる堅牢なバックエンドを使用しているため、製品のパフォーマンスとカスタマーサービスを簡単に追跡および分析できます。これにより、ユーザーのジョブをより簡単に、より速く、より効率的にすることができます。また、欠陥認識にも役立ち、製品の損傷を軽減します。J750はプロダクトテストの質そして完全性を改善するように設計されている高度の電子工学テストシステムです。堅牢で拡張性があり、ユーザーのジョブを簡素化できるため、高密度コンポーネントやより複雑なエレクトロニクスのテストに最適です。