中古 TERADYNE J750 #9262642 を販売中

TERADYNE J750 Final Test Equipmentは、半導体デバイスおよび回路基板試験の精度と信頼性を高めるために設計された自動テストハンドラーです。TERADYNE J 750は、高いレベルの統合とモジュールの柔軟性を備えており、テストカバレッジの向上、スループットの向上、省スペース化を実現します。J750 Final Test Systemは、複数の製品を同時にテストするための優れた柔軟性を提供し、スループットと歩留まりの両方を向上させます。最新のテストハンドリング技術を活用して、各テストポイントから最も正確で信頼性の高いテスト結果を得ることができます。J 750は組み込みマイクロプロセッサを備えており、複数のテスト動作を同時に実行できます。これらのアクティビティには、マルチサイトテスト、スキャンパステスト、パターンテストが含まれます。このユニットは、GPIB、 RS-232、およびイーサネットを含むさまざまなテスターインターフェイスをサポートしています。強力なプロセッサとインタフェース機能により、マシンはさまざまなテストソフトウェアとインタフェースし、あらゆるデジタルまたはアナログコンポーネントで製品をテストできます。TERADYNE J750では、複数のハンドラ構成を選択できます。これには、シングルテストハンドラとアンシングテストハンドラ、ベッドオブネイルハンドラ、ロードボードテスターが含まれます。柔軟なハンドラ構成により、ユーザーは正確なテスト要件に最も適したツールをカスタマイズできます。さらに、TERADYNE J 750は、BGA、 TSOP、 SOIC、およびその他のコンポーネント・タイプを含む幅広いデバイスをテストできます。J750は、電気ピンのような高度なテスト技術を使用していますテストを実行します、ショートメソッド、強化パラメトリックテスト、コンポーネントのマーキング、他のテスト方法と一緒に。パラメトリックテスト、機能テスト、ベッドオブネイル、コンポーネントマーキングなど、さまざまな組み合わせでこれらのテストを迅速かつ正確に実行します。さらに、テストデータは、レポートおよび分析に使用できる資産の内部データベースに保存されます。このモデルは、ATEロードボード、フィクスチャーカード、カスタムテストテープメディア、およびその他の業界標準のテストメディアなど、幅広い試験治具とテストメディアをサポートしています。さらに、J 750は柔軟なプラットフォームで設計されており、異なるテスト構成と製品タイプをすばやく切り替えることができます。この機能により、新製品設計の市場投入までの時間が大幅に短縮されます。TERADYNE J750は、手頃な価格で一貫したテスト結果を必要とする、大量のテスト操作のための効率的で信頼性の高いソリューションです。TERADYNE J 750は、高度なテスト機能、マルチサイトテスト機能、幅広いテストメディアサポートを備え、生産環境と研究開発環境の両方に最適なテストソリューションです。