中古 TERADYNE J750 #9262430 を販売中
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ID: 9262430
Testers
Small test head
512 Channels
LVM 16M
(3) DPS
MTO
XW8400 Workstation
2001-2004 vintage.
TERADYNE J750は、テストの最小コストで最大限の試験カバレッジを得るために設計された最終試験装置です。モジュール式でスケーラブルなアーキテクチャを備えており、さまざまな製品をテストするための大容量と柔軟性の両方を可能にします。TERADYNE J 750には、使いやすいQuantum Machine Interface (QMI)ソフトウェアが含まれており、テストソリューションを迅速かつ簡単に管理できます。J750は、ハイコンテンツデバイスを最大160メガクロック/秒(MHz)の速度でテストできる高速、高スループットテストシステムです。オプションのラックユニットを備えており、大きなフットプリントでのテストが可能です。このオートメーションマシンは、6。5ギガヘルツまでのピン間テストを実行できる高速テストモードを含む、テスト開発用の統合プラットフォームを提供します。また、高度な熱制御、高速パルスプログラミング、および設定可能な電力および電流制限設定も含まれています。これにより、テストアプリケーション用のJ 750の自動適応が可能になります。柔軟で構成可能なTERADYNE J750は、テスターを念頭に置いて設計されており、1つのサイトから複数のサイト、数十万のテストから数百万まで、さまざまなテストオプションがあります。また、標準テスト開発ツールやサードパーティ製ソフトウェアプラットフォームもサポートしています。QMIソフトウェアを使用すると、ユーザーはカスタムテストを作成し、テストデータを表示し、デバイスの検証と認証を行うことができます。TERADYNE J 750にはOpen Test Tool (OTS)が含まれており、従来のテストソリューションよりも柔軟にローカルテストプログラムを変更して結果を迅速に分析することができます。OTSは、オンザフライのテストのセットアップと再構成もサポートしています。J750の直感的で人間工学に基づいた設計により、ワークフローの中断を減らし、テストおよびデバッグプロセスに必要な市場投入までの時間を最小限に抑えます。J 750の複数の機能により、テストソリューションの管理プロセスが簡素化され、全体的な効率と有効性が向上します。TERADYNE J750は、既存のBluetoothおよびWiFiネットワークと統合することもでき、デバイスの特性評価技術のためのより多くのオプションを提供します。これは、大規模なテストボリュームの要件を満たすために積み重ね可能なモジュールで拡張可能です。TERADYNE J 750は、幅広い直接接続性とさまざまなデジタルI/O機能を備え、さまざまなテスト環境に適しています。J750は、シングルサイトソリューションを提供する理想的な最終テスト資産であり、パフォーマンスや品質を損なうことなく、複数のデバイスを迅速かつ柔軟に測定およびテストできます。
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