中古 TERADYNE J750 #9262267 を販売中

TERADYNE J750は、複雑なコンポーネントのテストと検証の品質を向上させるために設計された、高度に洗練された最終試験装置です。マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、ASIC、マイクロコントローラなど、さまざまなハイエンドコンポーネントに卓越したフォルトカバレッジとテスト速度を提供する自動連続試験システムです。このユニットは、デジタルピンエレクトロニクス、同時マルチサイト、デジタルパターン生成、ダイレクトデータ取得、および正確なプログラマブル電圧源など、広く展開されている実績のあるテスト技術に基づいています。TERADYNE J 750に採用されているデジタルピンエレクトロニクスは、すべてのデジタルデバイスをテストすることができます。ピンエレクトロニクスは、500MHz 10nsまでの高速信号スイッチングおよびスイッチング精度を提供し、信号整合性、クロストークの低減、および高度な信号品質アプリケーション向けのインピーダンスマッチングに理想的な波形を提供します。マルチサイトモードを同時に使用すると、並列テストが可能になり、マシンは複数のサイトで同時にテストすることができます。このテストモードはスループットを向上させ、最終的に市場投入までの時間を短縮します。テストツールは、静的モードと動的モードの両方でパターン生成とテストを実行することもできます。静的モードでは、パターンジェネレータは、テスト中のデバイスを制御するために使用できるユーザー定義の静的波形を生成できます。この波形は、リセットコマンドが発行されるまで安定しているため、いくつかの信頼性試験や反復波形が必要な波形に最適です。ダイナミックモードでは、疑似ランダムパターンまたは複雑な波形を生成し、ピンと回路を構成するために使用できます。さらに、J750には、電流および電圧測定および熱試験手順のための幅広いオンボード機器が含まれています。これらの機器は、電圧、電流、温度、波形などのパラメータを測定するのに最適です。このような測定は、テストプロセス中に期待値を比較するために順番に使用されます。この高度な測定スクリプティング機能により、熱および電気応力試験のより良いモデルが生成され、プロセスの精度が向上します。最後に、アセットには3つの非接触テストプローブがあり、テストヘッドに接続され、テスト中のデバイスと自動化されたテスト機器間の信頼性の高い高精度な接続を提供します。これにより、デバイスがテストされて処理されている間も、テストモデルのすべてのコンポーネントが安定していることが保証されます。さらに、高速CCDカメラは、機器のスループットを損なうことなく、高速フレームキャプチャと同時視覚解析を提供します。全体として、J 750は非常に効率的で信頼性の高い最終試験システムであり、コンポーネントのテストと検証の精度を劇的に向上させることができます。これは、高度なピンエレクトロニクス、同時マルチサイトテスト、パターン生成、広範な測定機器の配列、非接触テストプローブ、高速CCDカメラなど、機能と機能の広い範囲を提供しています。この単位はより速いプロダクトテスト、よりよい欠陥の適用範囲および市場への減らされた時間を提供します。