中古 TERADYNE J750 #9190314 を販売中

TERADYNE J750 Final Test Equipmentは、さまざまな集積回路（IC）パッケージを正確かつ効率的にテストするために設計された半導体試験装置です。ICを素早く正確にテストし、不良部品と良品を識別して分離することができます。TERADYNE J 750は、包括的なソフトウェアおよびハードウェアコンポーネントを使用して、ICの徹底的なテストを実行します。J750は、テスト中のICとのインターフェースに使用される一連のピンカードボードを備えています。ピンカードには、デジタル回路とアナログ回路の洗練されたセットが含まれています。これらの回路により、J 750はIC上のさまざまなパラメータを正確に測定し、潜在的な障害を検出することができます。TERADYNE J750パッケージには、専用のテストコントローラ「Tetra-Link」も含まれており、システム内のすべてのピンカードがテスト実行用に正しく設定されていることを保証します。TERADYNE J 750は、いくつかの高度なアルゴリズムとソフトウェアプログラムを使用して、ICのテストおよび分析に必要なテストプロファイルを生成します。ソフトウェアは、テストランを作成し、精製し、自動化するためのツールの広範なセットを提供します。これにより、各ICの個々のニーズに合わせてテストプロトコルを調整することができます。J750にはいくつかのGUIインターフェイスが付属しており、ユーザーはリアルタイムでテストパラメータを監視および調整できます。J 750には、発見された欠陥の原因を特定するために使用できる強力な解析モジュールも含まれています。これらのモジュールは、時間ドメインと周波数ドメインの両方でシミュレーションを実行し、正確で包括的なフォルト特性評価を行うことができます。このユニットには、ユーザーがテスト結果を解釈および分析するのに役立つさまざまなデータビジュアライゼーション技術も含まれています。TERADYNE J750 Final Test Machineは、最新の半導体デバイスを迅速にテストおよび特性評価するための優れたソリューションを提供します。堅牢なソフトウェアとハードウェアコンポーネントにより、ユーザーはICを徹底的かつ正確にテストすることができ、最終的にデバイスの故障率が低下する可能性があります。