中古 TERADYNE J750 #9184232 を販売中

TERADYNE J750は、エレクトロニクス製造業界におけるパフォーマンスと製品テストのニーズの高まりに対応するために構築された最終試験装置です。この最先端のテストシステムにより、お客様はテストコストを最小限に抑えながら製造スループットを最大化できます。このユニットは、大量生産環境のニーズを満たすために構築されています。最新の高速試験技術を使用しており、1台のマシンで複数のデバイスタイプをテストすることができます。TERADYNE J 750には、ベクトルレステストソフトウェアのサポートを含む柔軟なテストモジュールが配列されています。これにより、メモリ、アナログ、ミックスドシグナルデバイスなど、さまざまな半導体デバイスをテストできます。すべてのモジュールは高度に構成可能であり、ツールは幅広いデバイスタイプに適応できます。アセットのテストプラン作成ツールは、各デバイスタイプのテストの開発を支援します。ユーザーは、高度なプログラミング機能とリアルタイムデバイス分析の恩恵を受けることができます。テストレポートは、コンパイルされたレポートから生成でき、モデルでテストされたすべてのデバイスの詳細なデータとグラフィカル分析を提供します。J750は使いやすいオペレータインターフェイスを備えており、テストオートメーション、結果ロギング、インターフェース通信オプションなど、すべての機器の機能をユーザーコントロールできます。また、テストパフォーマンスとデータ取得のリアルタイム監視を提供します。オンラインヘルプシステムを通じて、ユーザーはすばやく技術情報やチュートリアルにアクセスしてユニットの能力を最大化することができます。また、J750は、ESDリスクを最小限に抑え、高速I/Oを特長とする、最大限の安全対策を提供するように設計されています。その高度な設計はまた、混合接触タイプと異なる相互接続を持つボードの信頼性の高いテストを可能にします。このマシンは、設計の互換性を確保するために、ほとんどの主要なCADフォーマットと互換性があります。オープンアーキテクチャのため、TERADYNE J750は将来必要となるソフトウェアやハードウェアの変更に対応できます。さらに、TERADYNE J 750はメンテナンスと拡張性を容易にするように設計されています。このツールは、任意のテスト要件を満たすために再構成することができます。マルチレベルのテスト機能と高速なデータ取得速度により、J750はより高いテスト精度を提供するように設計されています。要するに、J 750最終テスト資産は、あらゆる電子製造要件に対応する費用対効果の高い高性能ソリューションです。