中古 TERADYNE J750 #9184050 を販売中

TERADYNE J750は、自動試験装置TERADYNEのアメリカの製造サプライヤーによって開発された最終試験装置です。このシステムは、トランジスタ、光電子デバイス、デジタル集積回路、およびその他の分野でテストされた超安全アプリケーションの高速生産試験用に設計されています。1990年代初頭に開発が開始されたTERADYNE J 750は、高速マルチサイトパラレルテストを備えた業界初の製品テストユニットです。J750は最先端の、信頼性が高く、堅牢なアーキテクチャに基づいています。高いスループットと正確かつ正確な高速試験能力を備えています。このテストは、市場投入までの時間と業界で最も迅速な障害検出時間を提供するように設計されています。J 750の高性能マシンオンチップ（SoC）デバイス試験機能は、優れたスループットと柔軟性を実現し、高性能および高信頼性デバイスのテストを可能にします。このツールの中心には、強力で高性能なプロセッサであるConfigurable Processor Control Unit （CPCU）があります。このユニットはテストプロセスを管理し、TERADYNEの実証済みTCCUソフトウェアに基づいています。これにより、資産は非常に柔軟で信頼性が高くなります。TERADYNE J750は、高度なテストプログラムの設計とデバッグを可能にする革新的な自動試験装置（ATE）設計ワークフローも備えています。この機能により、エンジニアはテストプログラムと設計サイクル時間を迅速に開発、変更、デバッグすることができ、生産出力を大幅に向上させます。TERADYNE J 750は、テストプログラムの設計とテストのための直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）も提供しています。このGUIは、エンジニアがテストモデルとテストプログラム構造をすばやく理解するのに役立ち、設計とデバッグのプロセスをより簡単、迅速、効率的にします。同社はまた、テスト機器をさらに強化しカスタマイズするために、さまざまなアドオンモジュールやその他のテストリソースコンポーネントも提供しています。また、ピン、A/Dコンバータ、オシロスコープ、カスタムボードなどのさまざまな機能を備えており、最適なテスト結果を得ることができます。さらに、複数のサードパーティ統合開発環境（IDE）およびテストスイートを利用して、アプリケーションの迅速な開発、テスト、導入を行うことができます。そのため、J750は幅広い機能を備えたパワフルなパフォーマンス指向のユニットを提供しており、最も困難なアプリケーションでの高速で長寿命で信頼性の高い生産テストに最適です。