中古 TERADYNE J750 #9179290 を販売中

TERADYNE J750は、複雑な電子デバイスの高品質な結果を保証する、生産とバーンインプロセスの両方のための次世代の最終試験装置です。4つのテストモジュールを搭載したTERADYNE J 750は、単一または複雑な機能を自動化してエラーを低減し、製品品質を向上させることができます。J750の統合テストアーキテクチャにより、幅広いテスト機能を同時に測定および評価できます。このシステムは、モジュールあたり最大4800個の電極を測定することができ、幅広いデバイスの種類とアプリケーションで動作するように設計されています。4つのテストモジュールは、高速メモリとロジックテスト、インユニットテスト、デバイスピン、ネット、結合、ピンの包括的なテストを統合しています。4モジュール構成により、生産ラインでの容易な導入が可能であり、機械は特殊なアプリケーションにカスタマイズすることができます。J 750は、集積回路（IC）ハンドラ管理を備えており、テストデータの取得、評価、輸送の自動化を可能にします。IC Handler Managementモジュールは、IC Handlerログへのアクセス、IC Handlerキュー管理、スケジューリング、IC Handler管理など、テストプロセスを制御する強力なツールを提供します。IC Handler管理はテスト時間の短縮にも役立ち、他のTERADYNEテストモジュールと統合して完全なテストソリューションを提供できます。TERADYNE J750は、Programmable Logic Design （PLD）デバッグ機能により、拡張されたデバッグ機能を提供します。PLDデバッグ機能は、最大16台のデバイスを表示できるグラフィカル環境を提供します。グラフィカル環境により、ユーザーはPLD設計の障害を迅速かつ簡単にトラブルシューティングできます。さらに、デバッグ目的で複数のデバイスのデバイスパラメータを一貫して測定およびレポートすることもできます。TERADYNE J 750は、試験時間の短縮と品質管理の向上に役立つ高度な試験カバレッジも提供しています。J750は、ツールごとに65万件以上の同時試験を行うことができ、幅広い電子機器に詳細な試験カバレッジを提供します。J 750は高速プローブカードにより、試験精度とスループットを最大化します。TERADYNE J750は、効率的で信頼性の高いテストと改善された製品品質を提供する次世代の高性能テストソリューションです。4つのテストモジュールと集積回路ハンドラ管理を備えたTERADYNE J 750は、高い柔軟性を提供し、最大限のテストカバレッジと精度を確保しながら、コストを削減し、品質管理を改善します。