中古 TERADYNE J750 #9167876 を販売中

TERADYNE J750は、半導体ダイ、集積回路、システムレベルの電子アセンブリなど、エレクトロニクス業界のさまざまなコンポーネントを検証するために使用される最終試験装置です。このユニットは、パラメトリック、電気、および物理的欠陥を含むさまざまな種類の欠陥を高速で検出および診断するのに役立ちます。TERADYNE J 750は、エンジニアが堅牢で信頼性の高い、そして愚かなテスト性能を達成するのを助ける独自のテスト技術の組み合わせを利用しています。ハードウェア実装の面では、J750はいくつかの主要なコンポーネントで構成されています。これには、マシンの動作を制御する中央処理ユニット（CPU）、ツーリングスロットを備えたテスター本体、およびターゲットデバイスとのインタフェースに使用されるテストカードが含まれます。テストカードは、デジタル/CPLD/FPGA/ASIC、 アナログ/MEMS/RF、 光学/X線/熱など、さまざまな種類があります。J 750は、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）と直感的なプログラミング環境を備えたGigaFlex ATEソフトウェアの助けを借りてプログラムされています。このソフトウェアは高度なイベントコントロールを備えており、シーケンサー、ルーパー、および高度な自動テストプログラムの生成を可能にするルーチンで構成されています。さらに、このソフトウェアは、柔軟なテストプログラムとデバッグを可能にするコマンドと機能の豊富なライブラリを提供します。TERADYNE J750の故障を正確に検出し、問題を診断する機能は、さまざまな種類の試験装置と測定オプションによって可能になります。DC、 AC、ノイズ測定などのパラメトリックテスト、高速パターン取得、機能波形サンプリングなどがあります。さらに、TERADYNE J 750は、Boundary Scan ATPG、 JTAG/Boundary Scan、 In-Tool Programmabilityなどの高度な診断ツールをサポートしています。最後に、J750資産も高度にカスタマイズ可能です。集積電源、ロジックアナライザ、波形ジェネレータなどの追加機能、MIL-STD試験規格、設定可能なハンドラオプション、および環境条件をシミュレートするための熱応力設備などのカスタマイズ機能を備え、お客様のニーズに合わせてカスタマイズできます。J 750には強力なTERADYNE Easy Programming Language （TEPL）も含まれており、お客様の既存のテストソフトウェアと資産を統合するための柔軟なプラグアンドプレイインターフェイスを提供しています。全体として、TERADYNE J750は、エレクトロニクスアセンブリおよびコンポーネント検証業界の幅広いアプリケーションに適した高度なハイエンドテストモデルです。試験装置と各種測定オプションの組み合わせにより、幅広い欠陥の正確な検出と診断に適しており、構成可能な試験オプションの柔軟性により、ほとんどのお客様のニーズに容易に適応できます。